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一种宽禁带半导体表面损伤层厚度的检测方法、装置
本发明涉及半导体技术领域,公开了一种宽禁带半导体表面损伤层厚度的检测方法、装置,通过将包含截面的宽禁带半导体晶圆片结构检测片作为工作电极连接作为对电极的金属催化剂,并浸泡入刻蚀液,再采用特定波长的入射光照射到截面上,在...
耿文浩王蓉邵秦秦皮孝东杨德仁
半导体材料表面损伤层的检测方法
本发明公开了一种半导体材料表面损伤层的检测方法,包括:在半导体材料的表面沉积保护层,保护层至少覆盖半导体材料的损伤观测位置;采用高能束流对半导体材料进行刻蚀并形成第一截面,第一截面的深度大于等于半导体材料的预估损伤深度...
薛芳蒋继乐
半导体材料表面损伤层的检测方法
本发明公开了一种半导体材料表面损伤层的检测方法,包括:在半导体材料的表面沉积保护层,保护层至少覆盖半导体材料的损伤观测位置;采用高能束流对半导体材料进行刻蚀并形成第一截面,第一截面的深度大于等于半导体材料的预估损伤深度...
薛芳蒋继乐
一种熔石英变曲率构件表面损伤信号的检测装置及方法
本发明公开了一种熔石英变曲率构件表面损伤信号检测装置及方法,所述装置包括检测模块、计算机控制系统和移动平台。本发明将直型轨道直接安装于熔石英圆棒加工机床之上,由于直型轨道与熔石英圆棒轴线平行,移动平台沿直型轨道运动过程...
白倩何传欣周平闫英郑立丹陆天玮
一种基于本征点缺陷的熔石英光学元件表面损伤检测方法
本发明属于光学元件加工处理技术领域,具体涉及一种基于本征点缺陷的熔石英光学元件表面损伤检测方法。包括以下步骤:根据本征点缺陷的光学吸收特征选择激光器类型;根据本征点缺陷发射光谱设置激光共聚焦显微镜的荧光信号采集波段;使...
王春阳刘雪莲王营霞李瀚岳肖博谢达吴亚杰
磨损组件表面下层初期失效指示剂
磨损组件包含表面下层初期失效指示剂;机械部件包括至少一个磨损组件,该至少一个磨损组件包含表面下层初期失效指示剂;并且机械系统包括至少一个机械部件,该至少一个机械部件包括至少一个磨损组件,该至少一个磨损组件包含表面下...
R·R·亨德森A·S·庞努萨米A·K·马欧德K·S·戈斯洛维奇
一种表面定值校准标准样板
本发明涉及一种表面定值校准标准样板,属于光学计量检测技术领域。解决尚未针对表面缺陷检测计量与校准建立起相关的计量体系的问题。包括透明薄膜、定值校准结构和辅助定位结构,所述透明薄膜下侧设置有定值校准结构和辅助定位结构,...
刘俭刘辰光姜勇由小玉
一种钢化玻璃制品表面激光雕刻装置及其方法
本发明公开了一种钢化玻璃制品表面激光雕刻装置及其方法,属于钢化玻璃制品激光雕刻技术领域。一种钢化玻璃制品表面激光雕刻装置及其方法,包括下外壳,所述下外壳外部上端的两侧均设置有连接架,两个所述连接架外部的上下两端均焊接...
倪明发圣绍杰倪菊花梁永旗万银兵
一种纤维增强复合材料表面损伤的评价及预测方法
本发明提供一种纤维增强复合材料表面损伤的评价及预测方法,包括:制备表面损伤检测试样;通过显微镜观测复合材料表面损伤程度,评价标准为最大裂纹深度h<SUB>1</SUB>、最大纤维拔出深度h<SUB>2</SUB>、...
鲍岩康仁科刘书成冉乙川董志刚
基于双传感器差分机制的铁磁性金属板件表面腐蚀缺陷脉冲涡流可视化检测被引量:1
2025年
针对铁磁性金属板件表面腐蚀缺陷,提出了一种基于双传感器差分机制的脉冲涡流可视化检测方法。该方法利用双传感器差分探头拾取脉冲涡流检测信号,提取检测信号下降沿对数曲线斜率和归一化差分信号峰值作为信号特征,用于对不同尺寸缺陷进行可视化检测。通过仿真及实验研究,建立了所提信号特征与缺陷尺寸间的关联规律,并验证了双传感器差分探头相较于传统单传感器探头在降低噪声干扰和提高检测灵敏度方面具有优势。此外,提出了对两种信号特征进行融合的方法,结果表明,使用融合信号特征的缺陷图像信噪比更高。所提方法为铁磁性金属板件表面腐蚀缺陷的可视化检测提供了一种有效且可靠的解决方案。
王瑾李勇苏冰洁高文龙向异刘正帅陈振茂
关键词:电磁无损检测脉冲涡流检测

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刘俭
作品数:450被引量:91H指数:6
供职机构:哈尔滨工业大学
研究主题:共焦 三维形貌 光学方法 像素 自由曲面
康仁科
作品数:959被引量:1,932H指数:22
供职机构:大连理工大学
研究主题:超声 砂轮 蜂窝芯 刀具 化学机械抛光
戴一帆
作品数:581被引量:1,514H指数:20
供职机构:国防科学技术大学
研究主题:面形误差 磁流变抛光 离子束 磁流变 修形
朱永伟
作品数:363被引量:930H指数:18
供职机构:南京航空航天大学
研究主题:电解加工 抛光垫 抛光 抛光液 表面粗糙度
刘辰光
作品数:171被引量:11H指数:1
供职机构:哈尔滨工业大学
研究主题:共焦 亚表面 装调 三维形貌 孔径