搜索到996篇“ 微波半导体器件“的相关文章
微波半导体器件
毛钧业编
关键词:微波半导体器件
多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪及方法
本发明涉及多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪及方法,包括测试仪本体,测试仪本体顶部具有盖板,盖板安装有测试端面部件,测试端面部件具有能够与负载板插接连接的定位销钉,所述盖板底面安装有连杆机构,所述连杆机构与设置在盖...
乔宏志胡培军丁志钊王亚海
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微波半导体器件频率扩展多参数自动测试通用方法及装置
本公开提供了一种微波半导体器件频率扩展多参数自动测试通用方法及装置,包括一主控单元、若干测试仪器和一测试功能电路;所述主控单元被配置为通过测控总线与各测试仪器和测试功能电路相连;所述测试仪器包括信号发生器、信号/频谱分析...
郭敏丁志钊王尊峰朱学波徐宝令
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微波半导体器件多处理器融合测控系统、方法及测试仪
本公开提出了微波半导体器件多处理器融合测控系统、方法及测试仪,系统包括中央处理器、网关以及多个辅助处理器,所述中央处理器分别与辅助处理器通过网关通信连接,所述辅助处理器至少包括用于实时获取测试设备状态监测数据的状态监控处...
郭敏王亚海胡宝刚阎涛朱学波丁志钊周辉王尊峰
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微波半导体器件双频非线性网络模型表征及提取方法
近年来随着第三代半导体的快速发展,通讯电子技术发生了翻天覆地的变化。尤其是其应用场景越发的趋向于多频,大功率的环境,而能同时支持多个频段的多频通信系统成为提高通信效率关键手段。建立半导体器件的多频非线性模型并应用于器件仿...
王博
关键词:微波半导体器件
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多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪及方法
本发明涉及多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪及方法,包括测试仪本体,测试仪本体顶部具有盖板,盖板安装有测试端面部件,测试端面部件具有能够与负载板插接连接的定位销钉,所述盖板底面安装有连杆机构,所述连杆机构与设置在盖...
乔宏志胡培军丁志钊王亚海
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微波半导体器件多参数测试仪
1.本外观设计产品的名称:微波半导体器件多参数测试仪。;2.本外观设计产品的用途:微波半导体器件多参数测试仪,主要用于对典型移动通信芯片和微波半导体器件/芯片等的测试应用开发。;3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。;...
谢丹陈振琳丁志钊
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微波半导体器件多参数测试仪接地设计
针对微波半导体器件多参数测试仪总体设计对接地的要求,讨论了微波半导体器件多参数测试仪系统组成、接地和接地方式对系统的影响,提出了微波半导体器件多参数测试仪系统级与模块级的接地方法,保证微波半导体器件多参数测试仪性能参数,...
周辉郭敏阎涛
关键词:工作接地
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微波半导体器件频率扩展多参数自动测试通用方法及装置
本公开提供了一种微波半导体器件频率扩展多参数自动测试通用方法及装置,包括一主控单元、若干测试仪器和一测试功能电路;所述主控单元被配置为通过测控总线与各测试仪器和测试功能电路相连;所述测试仪器包括信号发生器、信号/频谱分析...
郭敏丁志钊王尊峰朱学波徐宝令
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微波半导体器件材料与工艺质量的SEM研究
微波半导体器件是衡量国家军事化水平的重要标准之一。与以欧美、日本为代表的发达国家相比,国内在微波器件方面研制工作相对落后,电子产品的质量与可靠性水平仍然存在较大差距。微波半导体产品的质量俨然发展成为武器建设的“瓶颈”,因...
饶真真
关键词:微波半导体器件扫描电镜
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相关作者

丁志钊
作品数:76被引量:25H指数:3
供职机构:中国电子科技集团公司第四十一研究所
研究主题:开关网络 T/R组件 矢量网络分析仪 测试装置 组件测试
盛柏桢
作品数:23被引量:37H指数:4
供职机构:中国电子科技集团公司第五十五研究所
研究主题:半导体器件 异质结双极晶体管 微波 高电子迁移率晶体管 单片集成电路
郑延秋
作品数:23被引量:34H指数:4
供职机构:中国电子科技集团第十三研究所
研究主题:噪声参数 噪声系数 校准 S参数 配器
莫火石
作品数:7被引量:9H指数:1
供职机构:信息产业部
研究主题:半导体器件 微波器件 微波半导体器件 电路 GAAS
高国成
作品数:40被引量:114H指数:6
供职机构:山东科技大学
研究主题:线性规划 筛选法 控制系统 绝对稳定性 层次分析法