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一种自动测试向量生成装置及方法
本申请属于设备测试技术领域，具体公开了一种自动测试向量生成装置及方法，装置包括：自动测试设备以及与自动测试设备相连的控制器和被测器件；所述自动测试设备向控制器和被测器件提供工作电源，并向所述控制器发出触发信号以启动测试；...
王庆胡勇刘欣
测试向量文件的编译方法、装置及芯片测试系统
本申请涉及一种测试向量文件的编译方法、装置及芯片测试系统，所述方法包括：读取测试向量文件中的时序数据、管脚数据和测试向量数据，测试向量数据包括多个测试向量；基于时序数据，获取多种测试板卡在测试向量中的排序和对应的时序配置...
侯俊
测试向量转换方法
本发明公开了一种测试向量转换方法。为降低芯片测试成本，本发明的测试向量转换方法，用于将第一ATE测试向量转换为第二ATE测试向量，包括：提取第二ATE芯片测试程序中的管脚定义文件中的管脚信息并写入第一依赖文件；提取文本格...
请求不公布姓名请求不公布姓名
测试向量转换方法
本发明公开了一种测试向量转换方法。为降低芯片测试成本，本发明的测试向量转换方法，用于将第一ATE测试向量转换为第二ATE测试向量，包括：提取第二ATE芯片测试程序中的管脚定义文件中的管脚信息并写入第一依赖文件；提取文本格...
请求不公布姓名请求不公布姓名
一种测试向量的编码方法
本发明公开了一种测试向量的编码方法，涉及测试技术领域，该方法将测试文件划分为若干个子文件，对于每个包含P行测试向量的子文件，对子文件中的P行测试向量的激励码进行列编码得到M个激励数据帧、对P行测试向量的功能码进行行编码得...
梁超广谢达 吴镇 王征 吴明川 丁正楠
一种测试向量的生成方法
本发明公开一种测试向量生成方法，应用于集成电路领域，针对现有侧信道检测方法在检测木马时存在的灵敏度低的问题；本发明通过生成高质量的测试向量，实现最大化在硬件木马在整个电路中的翻转活动，提升木马部分对于侧信道信息的贡献，这...
李磊周婉婷
一种存储器测试向量生成方法
本发明涉及一种存储器测试向量生成方法，通过对存储器测试的配置指令，存储单元地址，数据读写、擦除等测试指令的写入顺序、循环次数、存储单元地址迭代方式进行串行编码，根据存储单元地址，计算迭代循环次数，并开始迭代循环串行测试指...
孙磊
一种测试向量的生成方法和装置
提供一种测试向量生成方法和装置，方法包括：基于不同的测试模式下不同的第二测试向量长度，生成若干个测试向量长度组合，并利用ATPG工具生成故障覆盖测试数据，利用预处理后的故障覆盖测试数据训练神经网络模型。基于不同的测试模式...
邓琛 洪钦智 沈钲
一种测试失效的测试向量的定位方法
本发明提供的一种测试失效的测试向量的定位方法，包括以下步骤：将测试向量集分成多个逻辑分段，并在部分逻辑分段前加入虚拟标记位向量，虚拟标记位向量后的第一个测试向量为起始测试向量；将具有虚拟标记位向量的逻辑分段的测试向量加载...
蔺华妮王磊
一种减少测试向量的方法、装置及设备
本发明提供一种减少测试向量的方法、装置及设备，所述方法包括：在对指定器件进行扫描测试期间，若当前测试阶段处于第一阶段，则基于第一支路向指定或门输入第一数值，所述指定或门位于测试使能端与时钟门控之间，并与所述第一支路相连，...
刘家正
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向东
作品数：386被引量：878H指数：16
供职机构：清华大学
研究主题：测试向量 自适应路由 扫描链 路由方法 无死锁
李晓维
作品数：482被引量：801H指数：13
供职机构：中国科学院计算技术研究所
研究主题：集成电路 扫描链 片上网络 芯片 电路
刘震
作品数：267被引量：378H指数：11
供职机构：电子科技大学
研究主题：模拟电路 测点 故障元件 退化数据 剩余寿命
王力纬
作品数：51被引量：40H指数：3
供职机构：工业和信息化部电子第五研究所
研究主题：木马 木马检测 集成电路 芯片 测试向量
恩云飞
作品数：414被引量：379H指数：9
供职机构：工业和信息化部电子第五研究所
研究主题：可靠性 集成电路 单粒子效应 木马 电迁移