赵棣新
作品数: 70被引量:88H指数:5
  • 所属机构:中国科学院高能物理研究所
  • 所在地区:北京市
  • 研究方向:核科学技术
  • 发文基金:国家自然科学基金

相关作者

过雅南
作品数:91被引量:76H指数:6
供职机构:中国科学院高能物理研究所
研究主题:北京谱仪 BES 触发判选 谱仪 数据获取
刘振安
作品数:33被引量:55H指数:4
供职机构:中国科学院高能物理研究所
研究主题:触发 FPGA VME总线 BESIII 北京谱仪
徐昊
作品数:25被引量:24H指数:4
供职机构:中国科学院高能物理研究所
研究主题:BES 触发系统 触发 BESIII ROCKETIO
金大鹏
作品数:57被引量:66H指数:5
供职机构:中国科学院高能物理研究所
研究主题:加速器 中国散裂中子源 保护系统 EPICS 触发
丁慧良
作品数:24被引量:26H指数:3
供职机构:中国科学院高能物理研究所
研究主题:北京谱仪 触发判选 主漂移室 谱仪 BES
GAL器件在触发判选径迹系统中的应用被引量:1
1993年
本文简要介绍在北京谱仪触发判选的径迹系统中采用GAL器件作相“或”电路、符合配对电路及径迹数相加电路。
丁慧良过雅南李启明赵棣新顾建辉
关键词:北京谱仪主漂移室飞行时间计数器反符合
FPGA,VHDL和BES主触发控制电路被引量:1
1996年
用高速的FPGA代替ECL集成电路制作了北京谱仪的主触发电路,其设计过程中使用了硬件描述语言VHDL,得到了和原电路同样的性能,但增加了灵活性。
过雅南王菊芳赵棣新
关键词:触发判选集成电路硬件描述语言FPGA
北京谱仪 Ⅱ(BESⅡ)顶点探测器数据获取系统被引量:1
1998年
北京谱仪(BESⅡ)顶点探测器数据获取系统是北京谱仪数据获取系统的一部分,该子系统电子学采用快总线标准。本文描述了该系统的硬件结构和软件系统,软件包括快总线系统的微码软件和上层控制软件。该系统的死时间为1.5ns。对BESⅡ系统总死时间的贡献小于0.5ms。
李小南张炳云过雅南张家文杨长友朱科军沈红赵棣新Ken YoungWatt Twomay
关键词:谱仪数据获取系统
用查表法实现可编程的触发表判选
介绍北京谱仪主触发系统的改进目的和用查表法实现触发表判选逻辑。
赵棣新陈鑫东过雅南李德刘斌马恩成章平张月元
关键词:谱仪触发判选查表
文献传递
TEXONO低能中微子实验中的CsI(T1)晶体探测器被引量:3
2002年
TEXONO合作组首次采用CsI(T1 )晶体测量反应堆中微子的能量、通量和反常磁矩 ,描述了实验的基本原理 。
李金刘延赵棣新毛泽普邱进发夏小米赖元芬盛华义王佩良庄保安赵平平石峰岳骞王子敬赖文斌陈晋平李世昌邓炳昆WANGS.C.WANGC.W.CHANGC.C.CHANGC.Y.李浩斌CHAOJ.H.LIUH.M.唐洪庆周祖英SUR.F.刘正山张志勇
关键词:中微子反常磁矩晶体探测器核反应堆通量
北京谱仪在线数据获取及分析系统
本文重点介绍北京谱仪(BES)在线数据获取及分析系统设计和进展情况.该方案将与北京正负电子对撞机(BEPC)和 BES 改进任务同步完成.此方案设计目标是压缩系统的死时间和提高在线监测及分析能力.
张炳云过雅南于传松孙舫赵维仁张长春周小帆杨长友李芳赵京伟罗拴群赵棣新丁慧良包化成栗新沈红周宝庆吕红宇
关键词:数据获取
文献传递
大角度巴巴散射和双μ产生的研究与亮度测量被引量:2
1997年
利用北京谱仪(BES)在=4.03 GeV 下正负电子对撞数据,研究了巴巴和双μ事例的 QED 过程.结果表明,实验数据在误差范围内同 QED 预言较好地一致,且从 e^+e^-和μ^+μ^-末态测出的两个亮度值在4%范围内相互一致.计算给出:BES 在该能区获取数据的总积分亮度为23.1 pb^(-1).
白景芝陈光培陈宏芳陈少敏陈雅清陈宇陈元柏程宝森崔象宗丁慧良杜志珍范晓舲方建高翠山高美丽高树琦顾建辉顾树棣顾维新顾以藩过雅南韩世温韩缨何炬何瑁胡贵云胡涛胡晓庆黄德强黄因智姜春华金山金艳康书辉柯尊建赖元芬兰慧彬郎鹏飞李芳李金李佩琴李群
关键词:亮度
随机脉冲发生器
由于核衰变和粒子反应的随机性,探测器给出的信号在时间上是随机的。但一般的信号发生器给出的都是周期性的信号,为了测试电子学设备在输入随机信号时的性能,时间上随机的信号发生器是必要的。本文介绍了各种随机信号发生器,包括模拟式...
过雅南赵棣新金大鹏
关键词:脉冲发生器单片机随机信号
文献传递
D介子稀有衰变研究(英文)
2006年
利用工作在北京正负电子对撞机(BEPC)上的北京谱仪(BES)收集到的33pb-1的Ψ(3770)数据,寻找D 介子味道改变中性流(FCNC)和轻子数不守恒(LNV)的稀有衰变,包括4个D0介子的衰变模式(K-0e+e-,φe+e-, ρ0e+e-和K-*0e+e-)和6个D+介子的衰变模式(K-e+e-,K+e+e-,π-e+e+,π+e+e-,K*-e+e+和K*+e+e-).没有发现信号,给出90%置信水平的上限.其中,D+介子的两个衰变模式D+→K*-e+e+和D+→K*+e+e-的上限是首次测量.
阿布里克木.麦迪娜白景芝班勇卞建国蔡啸陈海璇陈和生陈宏芳陈江川陈进陈元柏迟少鹏初元萍崔象宗戴又善邓子艳董燎原董清风杜书先杜志珍方建房双世傅成栋高翠山高原宁顾树棣顾运厅过雅南郭义庆何康林何瑁衡月昆胡海明胡涛
关键词:稀有衰变D介子
基于FPGA中FIFO误码率软硬件测试方法被引量:4
2004年
文中介绍用 FPGA中 FIFO的误码率软件和硬件测试方法,简介数据比较程序;说明硬件测试中伪随机码序列特点和生成原理,并对比较时如何使数据对应做出讨论。最后列出测试结果,比较这两种方法的优缺点。
王科刘振安赵棣新过雅南徐昊阴泽杰
关键词:FIFO误码率伪随机码线性反馈移位寄存器数字通信