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国家自然科学基金(5107510751174069)
作品数:
1
被引量:11
H指数:1
相关作者:
刘洋
王家兵
孙凤莲
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相关机构:
哈尔滨理工大学
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发文基金:
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国家自然科学基金
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相关领域:
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低银
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哈尔滨理工大...
作者
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孙凤莲
1篇
王家兵
1篇
刘洋
传媒
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焊接学报
年份
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2012
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微量元素对无铅焊点电迁移性能的改善
被引量:11
2012年
电迁移现象已经成为电子组装焊技术中最受关注的问题之一.焊点在高电流密度下的服役可靠性与焊点钎料成分有关.通过对比分析五种SnAgCu基无铅焊点在高电流密度下的服役表现,分析了添加微量元素对于电迁移现象的影响规律.结果表明,焊球承受一定电流作用之后,阴极金属间化合物(IMC)分解,铜焊盘受侵蚀,阳极形成大量脆性化合物Cu6Sn5;根据IMC层的厚度变化,Sn3.0Ag0.5Cu的抗电迁移性能优于低银钎料;向低银钎料中加入微量元素Bi和Ni后,晶粒得到了明显的细化,界面IMC层较薄,其抗电迁移的能力得到了明显的改善.
王家兵
孙凤莲
刘洋
关键词:
低银
无铅钎料
电迁移
金属间化合物
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