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国家自然科学基金(61376042)

作品数:5 被引量:11H指数:3
相关作者:黄姣英高成张明杰王香芬更多>>
相关机构:北京航空航天大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 5篇中文期刊文章

领域

  • 5篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇可靠性
  • 1篇带宽
  • 1篇带宽测试
  • 1篇电学法
  • 1篇镀层
  • 1篇瞬态
  • 1篇镍镀层
  • 1篇自动测试设备
  • 1篇耦合电容
  • 1篇误差分析
  • 1篇线性度
  • 1篇接口板
  • 1篇结温
  • 1篇抗腐蚀
  • 1篇高压脉冲
  • 1篇共模
  • 1篇共模抑制
  • 1篇管壳
  • 1篇仿真
  • 1篇仿真方法

机构

  • 5篇北京航空航天...

作者

  • 5篇黄姣英
  • 4篇高成
  • 2篇张明杰
  • 1篇王香芬

传媒

  • 3篇现代电子技术
  • 1篇武汉理工大学...
  • 1篇电子元件与材...

年份

  • 2篇2019
  • 2篇2018
  • 1篇2017
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
线性光电耦合器关键传递性能参数测试方法研究被引量:3
2019年
线性光耦与普通光耦内部结构不同,因此普通光耦的测试方法不适用于对线性光耦的参数测试。针对线性光耦的传递性能参数缺乏统一的测试方法的问题,文中选取带宽、传递系数、非线性度三个关键参数进行测试方法研究。其中带宽使用脉冲测试方法,传递系数使用电流测试方法,非线性度使用公式法计算。选取HCNR200线性光耦为研究对象,仿真HCNR200线性光电耦合器的带宽测试,试验测试HCNR200线性光耦实物的带宽、传递系数及非线性度,进行误差分析。试验结果表明,测试方法能够有效反应器件的传递性能,具有较高的准确性。
高成寇震梦黄姣英
关键词:带宽测试误差分析
高速光耦瞬态共模抑制性能的电路仿真方法被引量:3
2018年
为了解决高速光电耦合器的瞬态共模抑制不能准确测试的问题,研究了光耦的耦合机理和瞬态共模抑制的测试原理。利用仿真技术对电路功能及瞬态共模抑制评估电路的耦合参数(包括耦合电阻与耦合电容)进行仿真和验证,分析了电路中的不同器件参数对仿真结果的影响,并且对得到的输出波形的数据进行读取与分析。以HCPL-2611为例,使用大电阻和小电容并联的模型模拟实际中的耦合情况,通过仿真分析确定了耦合电容的大小,验证了高速光耦瞬态共模抑制仿真方法的有效性。
高会壮王香芬张芮黄姣英
关键词:PSPICE仿真高压脉冲耦合电容
基于电学法的达林顿管稳态热阻测量方法研究
2019年
热阻是功率器件一个重要的热性能参数,影响着结温的高低,同时也用于确定器件结温以及功率器件的安全工作温度范围。每只器件热阻值由于工艺问题有一定偏差,由产品手册无法获得精确热阻值。从电学法测量结温原理出发,以达林顿管BDW47G为试验对象,测量并计算得到其温度系数M=-1.835 8 mV/℃。设计测量电路,并对测量中延迟时间造成的误差进行分析修正,得到达林顿管延迟时间为零时精确结温,最终获得达林顿管稳态热阻的测量计算方法。该方法有助于获得器件关键热性能参数,有助于老炼试验等对结温有要求的试验获得精确结温。
高成王怡豪张雨琪黄姣英
关键词:电学法达林顿管测量方法结温
国产与进口管壳金镍镀层质量特性分析被引量:1
2017年
国产金镍体系管壳在鉴定检验中,常出现腐蚀、掉字等镀层质量问题,直接影响器件的封装可靠性。结合镀层常见质量问题,分析镀层的厚度、结构等影响因素;利用扫描电镜和能谱分析,从外观、厚度、结合力、耐热性、结构和成分六方面,进行了国产与进口管壳样品的镀层质量特性分析;选取国产与进口管壳样品各10只,开展湿热试验和盐雾试验,分析Au/Ni管壳的薄弱环节和抗腐蚀性能。结果表明,国产管壳相比进口管壳的不足,主要表现在打标方式不成熟、金层厚度较为单薄、镀层结构不够合理、材料纯度相对较低等方面;在打印标记处和平行焊缝处,管壳的抗腐蚀性能较弱。
张明杰高成傅成城黄姣英
关键词:管壳抗腐蚀可靠性
自动测试设备测试接口板可靠性的评审方法与要求被引量:4
2018年
测试接口板的可靠性对测试结果的准确性有较大影响,而目前国内外还没有对接口板的可靠性评审做出详细规定。通过对测试接口板结构与功能要求进行分析,确定了测试负载板可靠性、适配座可用性、信号完整性3个一级评审要素。从设计、制作、使用条件、器件选用等角度,将一级评审要素细分出23个二级评审要素,并对这些要素做出详细要求,形成一套适用于自动测试设备测试接口板的评审方法和要求。该方法可有效保障鉴定检验中大规模集成电路测试的可控性,可为军用超大规模集成电路鉴定检验提供测评依据,同时为测试程序的运行提供技术参考。
高成张明杰黄姣英
关键词:自动测试设备接口板可靠性
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