国家科技支撑计划(2011BAK15B05)
- 作品数：15 被引量：51H指数：5
- 相关作者：王梅玲王海吴志娇朴玲钰高思田更多>>
- 相关机构：中国计量科学研究院中国石油大学（北京）国家纳米科学中心更多>>
- 发文基金：国家科技支撑计划国家重点基础研究发展计划国家科技基础性工作专项更多>>
- 相关领域：理学机械工程一般工业技术金属学及工艺更多>>
- XPS分析过程中X-射线照射对PET的影响
- 2015年
- 利用X-射线光电子能谱仪的X-射线源照射PET薄膜样品,通过XPS方法原位分析表征了X-射线照射对PET样品的损伤影响。X-射线照射对PET样品的影响显著:随着X-射线照射时间的延长,C1s峰整体向低结合能端发生位移,PET样品中元素C和O的原子百分含量分别呈线性升高和线性下降的趋势,官能团C—O和O=C—O的数量呈线性减小趋势。X-射线照射热效应导致的PET热降解是造成这些变化的主要原因。
- 范燕王海王梅玲马一博魏伟胜邢化朝
- 关键词：降解
- Ni-Mo-P/Cu薄膜的热稳定性被引量：1
- 2015年
- 通过自组装层法、磁控溅射依次在Si O2基底上化学镀制备了Ni-Mo-P、Cu薄膜,薄膜厚度和成分通过X射线荧光仪（XRF）测定。对Si O2/Ni-Mo-P/Cu体系进行了400-600℃的热处理,利用X射线衍射仪（XRD）对物相结构的稳定性进行了测定,利用场发射扫描电镜（FE-SEM）和电子能谱仪（EDS）对表面形貌的稳定性进行了观察和成分分析。结果表明,在400和500℃热处理后,体系稳定性良好,但在较快的降温速率（40℃/min）条件下,Si O2/Ni-Mo-P/Cu体系在600℃热处理后失效,根据热失配应力,提出了薄膜破裂模型,Ni-Mo-P薄膜与Si O2界面断裂能为2.12 J/m^2。Cu薄膜在600℃热处理时发生团聚,Cu在Ni-Mo-P上的团聚激活能为1.15 e V,大于Cu在Si O2上的团聚激活能0.6 e V。
- 王梅玲杨志刚张弛王海高思田
- 关键词：热稳定性团聚
- Cu(In,Ga)Se_2薄膜组成表面分析准确测量国际关键比对被引量：1
- 2015年
- 中国计量科学研究院参加了国际关键比对K129,采用X射线光电子能谱仪(XPS)建立了测量薄膜太阳能电池材料铜铟镓硒(CIGS)薄膜组成和深度成分分布的有效方法。采用合适的条件,对CIGS薄膜进行深度剖析,提出并完善了一套XPS深度剖析数据处理方法(全计数法和相对灵敏度因子法),对薄膜组成进行了准确测量。结果表明,该方法的测量重复性良好,5次测量的相对标准偏差(RSD)均小于2%,测量扩展不确定度优于4%,与其他国家计量院的结果取得等效一致。对比研究了不同灵敏度因子来源(由参考样品获得、仪器数据库的3种来源)对CIGS薄膜组成测量结果的影响,结果表明,仪器厂商数据库自修正的灵敏度因子最接近于参考样品,可较好地对CIGS薄膜进行原子含量测量。该方法可推广用于表面分析设备深度剖析薄膜样品时定量计算薄膜成分,提高测量薄膜成分的准确度,为薄膜太阳能电池材料研发和产业化提供参考依据。
- 王梅玲王海高思田马一博范燕宋小平
- 关键词：CIGS薄膜X光电子能谱国际关键比对
- 带宽标准物质的定值和不确定度的评定
- 2014年
- 标准物质的定值是研制标准物质过程中的重要环节。带宽标准物质的定值过程采用多家实验室协同定值的方法。本文以纳米二氧化钛带宽标准物质为例,对带宽标准物质的定值过程及不确定度评定进行了详细介绍。
- 吴志娇解英娟朴玲钰
- 关键词：带宽标准物质定值不确定度
- 物理混合法制备分级混晶TiO2微纳米材料及其光催化性能被引量：6
- 2015年
- 通过物理混合法可控合成了分级混晶TiO2微纳米材料,采用扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、X射线衍射仪(XRD)、X射线光电子能谱仪(XPS)和固体紫外-可见分光光度计(UV-Vis)等对该微纳米材料进行了表征,并评价了不同混晶比材料的光催化性能.结果表明,所得材料是由均匀负载金红石纳米颗粒的锐钛矿纳米片组装的三维分级结构.其具有很高的光催化活性,分级结构和混晶异相结的同时引入是提高材料光催化活性的关键.
- 张晓解英娟马佩军吴志娇赵谡玲朴玲钰
- 关键词：二氧化钛光催化
- α-Al_2O_3比表面积标准物质的研制被引量：2
- 2014年
- 选择市售α-Al2O3粉体作为比表面积标准物质候选材料,采用交叉缩分方法对标准物质样品进行分装。检验结果表明α-Al2O3标准物质样品具有良好的均匀性和稳定性(18个月)。采用国际公认的氮气物理吸附BET方法,联合测量能力经过确认的8家实验室对α-Al2O3标准物质样品进行定值,标准值比表面积为5.47 m2/g,不确定度为0.22 m2/g(k=2)。
- 王海刘俊杰宋小平王梅玲侯美英
- 关键词：标准物质比表面积Α-AL2O3
- 纳米级半金属薄膜Fe_3O_4(001)的外延生长及晶向测定
- 2014年
- 半金属材料Fe3O4具有理论上100%的自旋极化率,其居里温度高达860 K,具有室温操作的可能。此外,Fe3O4与Mg O晶格具有较低的失配率(0.3%),将二者结合起来有利于磁阻的进一步提高,因此Fe3O4材料成为制备磁阻器件的候选材料。采用对靶磁控溅射的方法,实现了低温制备纳米级别Fe3O4(001)薄膜。利用X射线衍射测量,采用小角掠射(掠射角为2o)、2θ/θ联动模式、步进扫描方式,成功获得其择优取向的图谱。通过XRD与TEM截面样品暗场选区电子衍射相结合的方法,可以定性区分各层薄膜的择优取向。
- 王梅玲王海高思田宋小平中川茂树
- 关键词：半金属缓冲层
- 基于GIXRR反射率曲线的二氧化硅纳米薄膜厚度计算被引量：2
- 2016年
- 为了快速、准确得到纳米薄膜厚度,采用Kiessig厚度干涉条纹计算薄膜厚度的线性拟合公式,计算了不同系列厚度（10-120nm）的二氧化硅薄膜。薄膜样品采用热原子层沉积法（T-ALD）制备,薄膜厚度使用掠入射X射线反射（GIXRR）技术表征,基于GIXRR得到的反射率曲线系统讨论了线性拟合公式计算薄膜厚度的步骤及影响因素,同时使用XRR专业处理软件GlobalFit2.0比较了两种方法得到的膜厚,最后提出一种计算薄膜厚度的新方法-经验曲线法。结果表明：峰位级数对线性拟合厚度产生主要影响,峰位级数增加,厚度增大;峰位对应反射角同样对线性拟合厚度有较大影响,表现为干涉条纹周期增大,厚度减小。但峰位级数及其对应反射角在拟合薄膜厚度过程中引入的误差可进一步通过试差法,临界角与干涉条纹周期的校准来减小。对任意厚度的同一样品,线性拟合和软件拟合两种方法得到的薄膜厚度具有一致性,厚度偏差均小于0.1nm,表明线性拟合方法的准确性。在厚度准确定值的基础上提出薄膜厚度与干涉条纹周期的经验关系曲线,通过该曲线,可直接使用干涉条纹周期计算薄膜厚度,此方法不仅省略了线性拟合过程中确定峰位级数及其对应反射角的繁琐步骤,而且避免了软件拟合过程中复杂模型的建立,对快速、准确获得薄膜厚度信息具有重要的意义。
- 马一博王梅玲王海袁珮范燕邢化朝高思田
- 关键词：厚度测量二氧化硅薄膜经验关系
- 纳米标准物质研究进展被引量：2
- 2014年
- 纳米科技是当今科技发展的重要前沿,其快速发展对纳米测量技术提出了新的挑战,也提供了新的发展机遇。纳米标准物质在复杂多变的测量环境中对纳米测量仪器设备的校准,新测量技术可靠性的评估,以及对样品的结构尺寸,光、电、磁、生物特征等理化参数的质量控制等方面具有重要作用。简述了纳米标准物质的国内外研究现状,对多种纳米级标准物质进行了较为全面的总结归纳和介绍。
- 王梅玲关铖灏王海高思田宋小平金劭
- 关键词：校准
- 压汞法总孔容和孔径标准物质的研制被引量：1
- 2014年
- 选择市售的氧化铝颗粒作为压汞法总孔容和（平均、最可几和中位）孔径标准物质候选材料,采用交叉缩分（Cross riffling）方法对标准物质进行分装。检验表明,均匀性和稳定性（9个月）良好。采用国际公认的压汞法,联合测量能力经确认过的8家实验室对标准物质定值,结果显示总孔容为0.413 cm3/g,平均孔径为14.77 nm,最可几孔径为11.71 nm和中位孔径为13.97 nm。研制的标准物质填补了国内空白,且其相对不确定度（2.9%~6.0%）达到国际同类标准物质的同等水平。
- 关铖灏王海金劭王梅玲刘俊杰
- 关键词：标准物质孔径压汞法氧化铝
