公共文化服务平台

共 7 条记录，以下是 1-7

全选清除导出

排序方式：

基于小波包近似熵的线路故障性质辨识方法被引量：14: 2012年; 超高压输电线路瞬时性故障与永久性故障的自动识别,是自适应重合闸实现的关键。研究超高压输电线路模型及其故障相电压特性,应用小波包分解和近似熵对故障相电压中的高频暂态分量进行分析;研究发现,对于瞬时性故障,其故障相电压的特征频段的小波包系数近似熵值在开关动作跳闸后的一段时间内显现振荡的变化趋势;对于永久性故障,其特征频段的小波包系数近似熵随时间递减。根据这一特征,提出了基于小波包系数近似熵的衰减系数累加和的输电线路故障性质自动识别方法,给出了相应自适应重合闸动作判据。仿真研究结果及工程应用实例证实了所提方法的可行性和准确性。; 黄娟黄纯江亚群万能高云鹏; 关键词：输电线路自动重合闸近似熵小波包分解

基于Rife-Vincent窗频谱校正的介损因数测量被引量：5: 2014年; 为减轻非同步采样和数据截断产生频谱泄漏和栅栏效应对介质损耗因数tanδ测量的影响,可选用旁瓣峰值电平小、且渐近衰减速率大的窗函数对信号加权处理.本文分析了Rife-Vincent窗的旁瓣特性,提出了基于Rife-Vincent窗频谱校正的tanδ测量方法,运用多项式拟合求出了计算简单、实用的校正公式,推导了介质损耗角及tanδ的计算式,并设计了基于AD73360L+ADSP-BF531+PIC32MX460F512L架构的介质损耗因数测量系统.仿真和实测结果表明,Rife-Vincent窗函数可有效抑制频谱泄漏,基于Rife-Vincent窗的频谱校正方法克服了谐波畸变干扰、电网频率波动、采样时长变化及白噪声对tanδ测量的影响,且设计实现简单,测量结果精确、稳定.介质损耗因数测量系统的应用实践证明了本文方法的正确性.; 高云鹏李峰陈婧曹一家; 关键词：介质损耗因数谐波分析法误差分析

基于波动负荷功率分析的闪变源判别方法: 2016年; 通过建立多闪变源电路等效模型,分析了闪变功率闪变源判别原理,构建了改进能量算子提取电压和电流闪变包络,采用改进FFT谱分析获得闪变包络参数计算闪变功率,基于闪变功率方向和幅值特性实现闪变源定位及其污染评估,提出并建立了基于波动负荷功率分析的闪变源判别方法.仿真分析和实验表明,提出方法能快速有效定位闪变源,准确评估多闪变源的污染程度,判别结果快速准确、误判率低.; 高云鹏陈婧李林滕召胜柯盼盼; 关键词：电能质量

基于Teager-Kaiser能量算子Rife-Vincent窗频谱校正的电压闪变测量被引量：20: 2014年; 分析了Teager-Kaiser能量算子的构成和Rife-Vincent窗的旁瓣特性,通过Teager-Kaiser算子快速提取电压闪变包络,将包络参数进行Rife-Vincent窗改进FFT谱分析与校正,简化IEC推荐的闪变测量过程,提出并建立了基于Teager-Kaiser能量算子Rife-Vincent窗频谱校正的电压闪变测量算法。仿真试验结果表明,本文提出的算法能有效克服单一频率调幅波频率变化、多频率成分调幅波、电网基波频率波动、谐波与间谐波以及白噪声对检测结果的影响,与传统电压闪变检测方法相比,设计实现简单、计算量小,测量结果精确、稳定,可用于电压闪变参数的在线监测。; 高云鹏李峰陈婧姚文轩黄纯滕召胜; 关键词：电压闪变电能质量

改进能量算子Nuttall窗频谱校正的闪变测量方法被引量：19: 2014年; 电压闪变已成为当前电力系统的重要污染,如何在复杂环境参数下实时提取闪变包络参数、准确统计闪变值是当前电能质量分析中的难题。分析了复杂闪变包络实时提取误差,构建了改进Teager-Kaiser能量算子包络提取误差修正因子,采用Nuttall窗加权修正能量算子提取结果,再将修正结果进行改进FFT谱分析与校正,推导出电压闪变包络提取的各幅值和频率的修正算式,简化IEC推荐的闪变测量过程,提出并建立了基于改进Teager-Kaiser能量算子Nuttall窗频谱校正的闪变包络实时提取与闪变值计算方法,据此研制了基于ADS8556+TMS320C6745架构的电压闪变在线检测仪。仿真分析和试验结果表明,本文提出的算法能有效克服单一调幅波频率变化、多频率调幅波、电网基波频率波动、谐波与间谐波以及白噪声对闪变检测结果的影响,与传统电压闪变检测方法相比,闪变包络提取实现简单、计算量更小,测量结果准确稳定,可用于电压闪变参数的实时分析与在线检测。; 高云鹏李峰陈婧滕召胜曹一家; 关键词：电压闪变闪变仪

偏置靶材离子束沉积法制备硅锗薄膜的表面粗糙度研究: 2015年; 采用偏置靶材离子束沉积工艺,在相同的沉积参数条件下,在硅、玻璃以及蓝宝石三种不同的衬底上分别制备了相同厚度的纯硅和纯锗薄膜。利用原子力显微镜,研究了两种非晶薄膜在不同衬底上的二维、三维表面形貌和表面粗糙度。结果表明:纯锗薄膜具有较大的均方根粗糙度,均达到了8 nm以上,其中沉积在硅衬底上的纯锗薄膜的均方根粗糙度最大,达到了11.16 nm;而纯硅薄膜的均方根粗糙度较小,均在3 nm以下,其中沉积在硅衬底上的纯硅薄膜的均方根粗糙度最小,仅有0.47 nm。; 倪大成侯晓伟; 关键词：硅锗原子力显微镜表面粗糙度

闪变FFT检测算法的误差分析及修正: 2013年; 快速傅里叶变换(FFT)是在实际应用中测量闪变最常用的一种算法,但是传统的快速傅里叶变换算法对于测量含多个调幅波所引起的闪变结果与国际电工委员会(IEC)推荐的测量闪变的方法相比不够准确,存在比较大的误差。为了准确测量闪变,提出了一种基于改进的快速傅里叶变换算法。以单频率调幅波和双频率调幅波为闪变检测输入信号,对FFT法检测闪变的各实现环节与IEC方法进行对比分析,发现FFT检测算法所得的瞬时闪变值与IEC所得的瞬时闪变值有一定的差距,从而找出FFT检测法的误差来源,通过修正瞬时闪变值来达到准确检测的目的。通过MATLAB仿真分析可以看出,基于改进FFT的闪变检测结果与IEC法基本一致,达到IEC闪变测量精度要求。该检测方法实现简单,并且可以拓展应用于含三个及以上的调幅波的闪变检测。; 王新梅江亚群黄纯张燕胡龙; 关键词：闪变快速傅里叶变换误差分析

全选清除导出

共1页<1>

国家自然科学基金(51107035)