国家自然科学基金(51062001)
- 作品数:7 被引量:5H指数:2
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- 相关机构:广西师范学院桂林电子科技大学电子科技大学更多>>
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- 相关领域:理学文化科学一般工业技术更多>>
- 基于物理学专业的电子技术课程教学模式研究
- 2011年
- 分析了目前物理学专业电子技术课程教学所面临的困难,提出了电子技术课程教学新模式。教学实践表明,教学新模式的应用,能激发学生自主学习的兴趣,促进学生掌握相关学科的基本知识、基本理论和基本技能,提高学生的团队合作能力、综合开发能力和创新能力。
- 谢清连黄国华潘吟松方凤才
- 关键词:物理学专业电子技术教学模式
- 采用快速升温烧结方法生长Tl-1223超导薄膜的研究被引量:4
- 2018年
- 报道了在铝酸镧(00l)衬底上生长Tl-1223超导薄膜的快速升温烧结方法以及铊(Tl)源陪烧靶的配比对Tl-1223薄膜晶体结构的影响.扫描电子显微镜观测表明,采用快速升温烧结方法生长的Tl-1223超导薄膜具有致密的晶体结构.X-射线衍射等测试表明,采用合适配比的陪烧靶在氩气环境下可以制备出纯c轴取向的Tl-1223超导薄膜,充氧退火后的薄膜具有较好的电学性能,其临界转变温度T_(c onset)达到116K,临界电流密度达到1.5MA/cm^2(77 K,0 T).实验结果表明,采用这一新的烧结方法制备Tl系超导薄膜具有升降温时间和恒温时间短、生产成本低等特点.
- 谢清连苏玲玲蒋艳玲唐平英刘丽芹岳宏卫陈名贤黄国华
- YSZ基片上Tl-2212超导薄膜的制备及其特性的研究
- 2010年
- 本文报道了在(001)掺钇氧化锆(YSZ)基片上生长高质量CeO2缓冲层和Tl-2212超导薄膜的制备方法,以及不同厚度的超导薄膜对其特性的影响。XRD和SEM测试表明,在经过合适条件退火的基片和CeO2缓冲层上,所生长的Tl-2212薄膜具有致密的晶体结构、优良的面内和面外取向。最佳样品的临界转变温度(Tc)和临界电流密度为(Jc)可以分别达到107.5 K和4.24 MA/cm2(77 K,0 T)。实验结果表明,采用该工艺所制备的不同厚度Tl-2212超导薄膜的主要指标能满足开发多种超导器件的要求。
- 谢清连游峰蒙庆华季鲁周铁戈赵新杰方兰阎少林
- 关键词:YSZ
- 采用溶胶-凝胶方法制备Tl-2212超导薄膜被引量:1
- 2014年
- 研究了采用溶胶-凝胶法在(001)取向的铝酸镧(LAO)单晶衬底上制备Tl2Ba2CaCu2O8(Tl-2212)高温超导薄膜。该方法是以乙酸铊、乙酸钡、乙酸钙、乙酸铜为起始原料,其中,Tl,Cu的含量要略高于Tl-2212超导相中的比例,并以乳酸、α-甲基丙烯酸、二乙烯三胺、三乙烯四胺、甲酰胺、甲醇为络合剂及溶剂,制得粘度合适的溶胶。以旋转涂层方法制备凝胶膜,凝胶膜经过干燥、热分解及后退火等工艺处理后,可得到超导样品。X射线衍射(XRD)的θ-2θ和Φ扫描测试表明,该样品为纯c轴取向的Tl-2212高温超导薄膜,且ab面内织构;电子能谱分析(EDX)和扫描电子显微镜(SEM)测试表明,该薄膜的组分比为Tl∶Ba∶Ca∶Cu=2∶2∶1∶2,且具有平整致密的表面形貌;临界温度(Tc)测试表明,薄膜具有良好的超导特性,其Tc可达104.5 K。
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- 关键词:溶胶-凝胶法高温超导薄膜
- 在溶胶-凝胶法中甲酰胺的添加量对Tl-2212超导薄膜的影响
- 2016年
- 以乙酸盐为起始原料,甲醇为溶剂,甲酰胺为添加剂,在铝酸镧(LAO)(00l)衬底上生长Tl2Ba2CaCu2O8(Tl-2212)超导薄膜。结果表明,在溶胶中加入甲酰胺,对先驱膜的形貌,以及超导薄膜的形貌、结构、性能有较大影响;当甲酰胺添加量为甲酰胺:乙酸钡(摩尔比)=(15~25):1时,可以制备出具有致密的晶体结构、高度c轴取向的外延Tl-2212超导薄膜,其薄膜具有较好的电学性能,临界温度Tc可达105.8K,临界电流密度Jc可达0.75MA/cm2(77K,0T)。
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- 关键词:溶胶-凝胶法甲酰胺
- 热分解工艺对溶胶-凝胶法制备 Tl-2212 超导薄膜特性的影响
- 2014年
- 研究了在铝酸镧(LAO)基片上TBCCO凝胶膜的热分解条件对Tl2Ba2CaCu2O8(Tl-2212)薄膜的结晶质量、表面形貌、组分比例的影响。SEM和XRD研究表明,凝胶膜经过适当条件热分解后,可以制作出具有致密的晶体结构、高度c轴取向的外延Tl-2212超导薄膜,其薄膜具有较好的电学性能。其临界温度T c可达106 K,临界电流密度J c可达0.83 MA/cm2(77 K,0 T)。
- 谢清连黄国华张振岳宏卫谢秀平黄自谦王向红张晶李建映
- 关键词:溶胶一凝胶法
- XRD在薄膜结构分析中常见问题的研究被引量:2
- 2010年
- 研究了X射线衍射(XRD)在薄膜结构分析中常见问题的解决方法,提出了取向生长薄膜的面内晶胞参数的测试及计算方法。实验表明,X射线束的扫描方向对反映的晶体结构信息产生影响。理论推导表明,在计算中选择合适强度和合适峰位的衍射峰,才能得到准确的晶胞参数。
- 谢清连黄国华潘吟松黄自谦
- 关键词:XRD晶胞参数