您的位置: 专家智库 > >

江西省教育厅科学技术研究项目(GJJ12119)

作品数:1 被引量:0H指数:0
相关作者:陈贤赵勇唐建成程国安方利广更多>>
相关机构:北京师范大学南昌大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金江西省教育厅科学技术研究项目更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇理学

主题

  • 1篇温度
  • 1篇线阵列
  • 1篇纳米
  • 1篇纳米线
  • 1篇纳米线阵列
  • 1篇光致
  • 1篇光致发光
  • 1篇发光
  • 1篇ZNO纳米
  • 1篇ZNO纳米线
  • 1篇ZNO纳米线...

机构

  • 1篇北京师范大学
  • 1篇南昌大学

作者

  • 1篇刘兵发
  • 1篇盛广沪
  • 1篇方利广
  • 1篇程国安
  • 1篇唐建成
  • 1篇赵勇
  • 1篇陈贤

传媒

  • 1篇真空

年份

  • 1篇2012
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
反应源温度对ZnO纳米线阵列定向性及发光性能的影响
2012年
以Au薄膜为催化剂、ZnO与碳混合粉末为反应源,采用碳热还原法在单晶Si衬底上制备了ZnO纳米线阵列。通过扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)、荧光分光光度计对样品的表征,研究了反应源温度对ZnO纳米线阵列的定向性和光致发光性能的影响。样品在源温度920℃条件下沿(002)方向择优生长,定向性最好,温度过低不利于ZnO纳米线阵列密集生长,而温度过高导致Zn原子二次蒸发,因而也不利于纳米线阵列的定向和择优生长;样品在源温度880℃有最强的近紫外带边发射,表明温度过高和过低都不利于ZnO晶体结构的优化;由于ZnO纳米线在缺氧氛围下生长,氧空位是缺陷存在的主要形式,因此所有样品都有较强的绿光发射。温度升高导致纳米线生长速度提高而增加了氧空位缺陷数量,从而使样品绿峰强度增强并在源温度920℃时达最大值,但温度的进一步升高可导致ZnO纳米线表面Zn元素的蒸发而降低氧空位缺陷的数量,从而抑制绿峰强度。
赵勇陈贤刘兵发程国安唐建成方利广盛广沪
关键词:ZNO纳米线阵列温度光致发光
共1页<1>
聚类工具0