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国家高技术研究发展计划(2004AA31G080)

作品数：1 被引量：0H指数：0
相关作者：李少林董占民孙红三更多>>
相关机构：清华大学更多>>
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相关领域：自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇外延片
  • 1篇无损检测
  • 1篇光致
  • 1篇光致发光
  • 1篇发光
  • 1篇LED外延片

机构

  • 1篇清华大学

作者

  • 1篇孙红三
  • 1篇董占民
  • 1篇李少林

传媒

  • 1篇微计算机信息

年份

  • 1篇2009
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
基于PC的LED外延片无损检测扫描系统
2009年
介绍了对新型发光二极管外延片光致发光系统的改进,以VC.net为语言工具编制软件,对发光二极管外延片关键性能参数的测量结果进行分析。增加了薄膜厚度测量的性能,完善了测量系统的功能。基于PC的检测系统智能化、自动化,实现了对LED外延片的无损、快速、准确的在线扫描测量。
董占民李少林孙红三
关键词：光致发光
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共1页<1>
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