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国家自然科学基金(51310Z07-2)
作品数:
1
被引量:3
H指数:1
相关作者:
沈健
王志红
包生祥
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电子科技大学
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沈健
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电子测量与仪...
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1篇
2006
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开尔文力显微镜检测ZnO薄膜的接触电势差
被引量:3
2006年
本文利用开尔文力显微镜观测了ZnO薄膜上ZnO/Si台阶处的接触电势差,研究了扫描速度对接触电势差检测的影响,并分析了造成这种影响的原因。实验测得电势分布在ZnO/Si台阶处有明显变化,ZnO/Si的接触电势差为250mV。实测值偏离理论计算值的原因是接触电势差受大气中表面吸附、氧化层、表面电荷等因素的影响。在不同的扫描速度下对同一区域进行扫描,发现扫描速度对接触电势差的检测有很大影响,扫描速度增大,检测结果逐渐偏离真实值,这种现象是力调制模式的开尔文力显微镜的信号处理方式造成的。建议在低速下进行扫描,以获得理想的检测结果。
沈健
包生祥
王志红
关键词:
ZNO薄膜
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