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苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司

作品数：314 被引量：0H指数：0
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相关领域：电子电信自动化与计算机技术文化科学理学更多>>

合作机构

文献类型

  • 314篇中文专利

领域

  • 123篇电子电信
  • 15篇自动化与计算...
  • 12篇文化科学
  • 8篇理学
  • 7篇经济管理
  • 7篇金属学及工艺
  • 6篇机械工程
  • 2篇建筑科学
  • 2篇交通运输工程
  • 1篇轻工技术与工...
  • 1篇医药卫生

主题

  • 165篇半导体
  • 118篇激光
  • 95篇激光器
  • 61篇半导体激光
  • 57篇半导体激光器
  • 38篇波长
  • 36篇波导
  • 28篇腔面
  • 28篇发光
  • 27篇光纤
  • 27篇反射镜
  • 25篇波长锁定
  • 23篇光束
  • 22篇半导体器件
  • 17篇发散角
  • 15篇导体
  • 15篇电极
  • 15篇电流
  • 15篇隧道结
  • 14篇刻蚀

机构

  • 314篇苏州长光华芯...
  • 256篇苏州长光华芯...
  • 31篇苏州长光华芯...

年份

  • 18篇2025
  • 46篇2024
  • 52篇2023
  • 73篇2022
  • 77篇2021
  • 27篇2020
  • 21篇2019
共 314 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
一种半导体激光器阵列控制系统及其工作方法
本发明提供一种半导体激光器阵列控制系统及其工作方法，其中，半导体激光器阵列控制系统包括：热沉；半导体激光器阵列；焊料层；施压装置，位于半导体激光器阵列上；近场成像透镜、图像传感器和快轴准直透镜；施压判断单元；反馈结构，反...
孙舒娟俞浩王俊周立李泉灵闵大勇廖新胜
文献传递
一种波长锁定半导体激光器系统
一种波长锁定半导体激光器系统，包括：若干半导体激光器光纤耦合模块，每个半导体激光器光纤耦合模块包括若干半导体激光器芯片、若干准直镜、聚焦耦合镜单元和若干传能光纤，所述聚焦耦合镜单元适于将经过所述若干准直镜准直之后的若干激...
俞浩林朋远王俊潘华东廖新胜闵大勇
文献传递
一种偏振光VCSEL及其制备方法
本申请公开了一种偏振光VCSEL及其制备方法，其中一种偏振光VCSEL包括：衬底；位于衬底一侧依次设置的N‑CAP层、N‑DBR层、有源层、P‑DBR层和P‑CAP层，P‑CAP层远离衬底的一侧设置有牺牲层，牺牲层包括周...
刘恒王俊郭帅肖垚高元斌苗霈
一种半导体激光器部分相干合束系统
一种半导体激光器部分相干合束系统，包括：第一半导体激光芯片至第N半导体激光芯片，第k半导体激光芯片出射第k激光，第一激光至第N激光进行空间合束形成空间合束激光，N为大于等于2的整数，k大于等于1且小于等于N；光纤，所述光...
俞浩虞天成李泉灵王俊潘华东
一种超晶格有源层及半导体发光结构的制作方法
本发明提供了一种超晶格有源层及半导体发光结构的制作方法，在形成任意单层的In<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1‑x</Sub>As膜的过程中采用第一路镓源气体和第二路镓源气体，第二路镓源气体的流量远小于第一路镓源气...
程洋赵武王俊郭银涛谭少阳张宇荧于涛
一种波长锁定半导体激光器系统
一种波长锁定半导体激光器系统，包括：第一光纤耦合模块至第N光纤耦合模块，第k光纤耦合模块包括第k传能光纤和若干第k半导体激光发光管；体光栅锁定模块，体光栅锁定模块包括若干第N+1半导体激光发光管、体光栅和第N+1传能光纤...
孙舒娟俞浩王俊李波胡燚文
半导体激光器材料的校验方法
本申请公开了半导体激光器材料的校验方法，包括：生长校验结构，校验结构包括从下至上依次设置的衬底层、第一晶格匹配层、InGaAs/InAlAs超晶格、第二晶格匹配层、In<Sub>y</Sub>Al<Sub>1‑y</Su...
詹文博程洋王俊赵武朱泽群闵大勇
一种半导体激光器芯片的缺陷检测系统及检测方法
本发明提供一种半导体激光器芯片的缺陷检测系统及检测方法。所述半导体激光器芯片的缺陷检测系统包括：半导体激光器芯片；成像透镜模块；图像获取模块，所述半导体激光器芯片输出的光束适于经过所述成像透镜模块后被所述图像获取模块接收...
俞浩胡欢王俊谭少阳周立李泉灵李波胡燚文肖啸闵大勇
文献传递
一种高功率单模低发散角半导体器件及其制备方法
本发明提供一种高功率单模低发散角半导体器件及其制备方法，高功率单模低发散角半导体器件包括：衬底层；位于衬底层一侧的第一布拉格部分反射层；位于第一布拉格部分反射层背向衬底层一侧的有源层；位于有源层背向衬底层一侧的第二布拉格...
王俊肖垚苗霈刘恒邱平平
文献传递
半导体激光器低温老化测试装置及低温老化测试方法
本发明提供了一种半导体激光器低温老化测试装置及低温老化测试方法，半导体激光器低温老化测试装置包括：腔体；位于所述腔体的外部且与腔体连通的第一进气管；位于所述腔体中的底部区域且与所述第一进气管连通的导流管，所述导流管的管壁...
靳嫣然周立王俊林朋远钱承吴天宝梁志敏
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