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邓小社

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：华润上华科技股份有限公司更多>>
相关领域：电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇国内会议论文

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇氧化物
  • 1篇氧化物半导体
  • 1篇划片
  • 1篇寄生
  • 1篇半导体
  • 1篇VDMOS
  • 1篇P-WELL

机构

  • 1篇华润上华科技...

作者

  • 1篇邓小社

传媒

  • 1篇中国电器工业...

年份

  • 1篇2009
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
寄生P-well对VDMOS器件耐压参数的影响
本文介绍了VDMOS器件工艺流程中产生的一种常见的寄生结构--划片槽中的寄生P-well，并以200V VDMOs器件为例，通过器件模拟验证寄生P-well对VDMOs器件耐压参数BDVss的影响关系，同时也验证了Gua...
邓小社胡兴正
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