陈文桥
- 作品数：6 被引量：8H指数：1
- 供职机构：中国科学院上海技术物理研究所更多>>
- 相关领域：电子电信机械工程更多>>
- HgCdTe探测器应力的多重晶X射线衍射分析
- 2004年
- HgCdTe光伏探测器的钝化介质膜应力常常限制其低温性能,利用高分辨率多重晶X射线衍射仪中的三重晶衍射技术和倒易空间作图对钝化介质膜应力进行了表征,发现在较高溅射能量下沉积的钝化膜,由于应力的作用,HgCdTe晶片出现弯曲,并有大量镶嵌结构,而在较低的溅射能量下和热蒸发下沉积的钝化膜,晶面未出现明显弯曲,可获得较低应力的钝化介质层。
- 孙涛王庆学陈文桥梁晋穗陈兴国胡晓宁李言谨何力
- 关键词：HGCDTE光伏探测器应力钝化
- HgCdTe钝化过程中形成的镶嵌结构及其热处理效应
- 2005年
- 通过高分辨X射线衍射仪中的二维点阵研究了溅射的CdTe介质膜对HgCdTe外延层的影响 .发现在高溅射能量下沉积的钝化膜由于应力的作用 ,HgCdTe晶片出现弯曲及大量镶嵌结构 。
- 孙涛王庆学陈文桥梁晋穗陈兴国胡晓宁李言谨
- 关键词：HGCDTECDTE钝化二维点阵
- 不同钝化结构的HgCdTe光伏探测器暗电流机制被引量：8
- 2005年
- 在同一HgCdTe晶片上制备了单层ZnS钝化和双层 (CdTe +ZnS)钝化的两种光伏探测器 ,对器件的性能进行了测试 ,发现双层钝化的器件具有较好的性能 .通过理论计算 ,分析了器件的暗电流机制 ,发现单层钝化具有较高的表面隧道电流 .通过高分辨X射线衍射中的倒易点阵技术研究了单双层钝化对HgCdTe外延层晶格完整性的影响 ,发现单层ZnS钝化的HgCdTe外延层产生了大量缺陷 。
- 孙涛陈文桥梁晋穗陈兴国胡晓宁李言谨
- 关键词：HGCDTE光伏探测器钝化倒易点阵暗电流
- 碲镉汞红外探测器的PSPICE模型
- 在分析了碲镉汞（HgCdTe）红外探测器工作原理的基础上,利用PSPICE的子电路功能建立了HgCdTe红外探测器的等效电路模型。该模型可以模拟HgCdTe红外探测器的I-V特性和R-V性,模拟的结果与实验数据相一致,说...
- 陈文桥孙涛梁晋穗胡晓宁李言谨
- 关键词：PSPICE碲镉汞等效电路光电二极管
- 文献传递
- CdTe+ZnS双层钝化的HgCdTe光伏探测器的制备及性能研究
- 制备了CdTe+ZnS介质膜,将其应用于光伏探测器中,对器件的性能进行了测试,并通过理论计算,分析了器件的暗电流机构,得到一些相关的材料和器件性能参数。
- 孙涛陈文桥梁晋穗陈兴国胡晓宁李言谨
- 关键词：HGCDTE光伏探测器暗电流
- 文献传递
- 碲镉汞光伏探测器的电流机构及器件建模
- 2003年
- 本文主要概述了碲镉汞光伏探测器及其电流机构:扩散电流、产生复合电流、直接隧道电流、间接隧道电流、表面漏电流以及光电流等。然后根据碲镉汞的电流机构讲述了建立光电集成回路计算机辅助分析的器件模型的步骤。
- 陈文桥
- 关键词：碲镉汞光伏探测器暗电流计算机辅助分析
