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张利明

作品数：2 被引量：0H指数：0
供职机构：上海市计量测试技术研究院更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文专利

主题

  • 2篇评估值
  • 2篇显微镜
  • 2篇显微镜测量
  • 2篇计量测试技术
  • 2篇估值
  • 2篇标准物质
  • 1篇电子显微镜
  • 1篇图像
  • 1篇种根
  • 1篇校准

机构

  • 2篇上海市计量测...

作者

  • 2篇张利明
  • 2篇盛克平
  • 2篇丁听生

年份

  • 1篇2006
  • 1篇2004
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
一种电子显微镜测量物质长度的方法
本发明涉及物质形态分析及计量测试技术领域，尤其是涉及一种具有溯源值、并带有不确定度评估的电子显微镜测量物质长度的方法。它包括如下步骤：a.校准电子显微镜；b.用电子显微镜拍摄被测物质图像；c.测量被测物质图像；d.计算被...
盛克平丁听生张利明
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一种根据有证标准物质校准电子显微镜测量物质长度的方法
本发明涉及物质形态分析及计量测试技术领域，尤其是涉及一种具有溯源值、并带有不确定度评估的、根据有证标准物质校准电子显微镜测量物质长度的方法。它包括如下步骤：a.校准电子显微镜；b.用电子显微镜拍摄被测物质图像；c.测量被...
盛克平丁听生张利明
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