李贺鑫
- 作品数：25 被引量：14H指数：2
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- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 运用t检验评估3DES算法的侧信道信息泄露被引量：6
- 2016年
- t检验是统计学中用来检验2个未知方差正态总体均值关系的假设检验方法。当总体的方差不相等,且样本量也不相等时,Welch t检验是一种比Students t检验更可靠的方法。该文将借鉴采用t检验对AES的实现进行侧信道信息泄露评估的方法,用Welch t检验来对3DES算法运行过程中的侧信道信息泄露进行评估,以衡量其是否可能受到一阶DPA攻击。该文构造了适合于3DES算法的Welch t检验方法,并对实现方法不同的3个运行3DES算法的设备进行了实验。实验结果表明该文的方法是有效的。
- 陈佳哲李贺鑫王亚楠王宇航
- 关键词：T检验
- 一种非接设备的侧信道信号采集系统
- 本申请提供了一种非接设备的侧信道信号采集系统，包括：读卡器、非接设备和与电磁线圈连接的信号采集设备；读卡器包括非接通信芯片和时钟输出装置；时钟输出装置，用于在预设程序控制下，输出载波参考时钟和采样时钟；采样时钟的频率是载...
- 李贺鑫王宇航王蓓蓓陈佳哲孙亚飞张宝峰石竑松杨永生
- 文献传递
- 运用t检验评估3DES算法的侧信道信息泄露
- 验是统计学中用来检验两个未知方差正态总体均值关系的假设检验方法.当总体的方差不相等,且样本量也不相等时,Welch t检验是一种比Student's t检验更可靠的方法.本文将借鉴Goodwill等的方法,用We...
- 陈佳哲李贺鑫王亚楠王宇航
- 关键词：密码算法信息泄露T检验
- IC芯片故障分析技术的原理及算法研究
- 故障分析已成为密码芯片的严重威胁并且是芯片安全测评的基本要求,攻击者对芯片注入故障以获取芯片的密钥或滥用其安全功能.由于现有研究对该技术的内在原理尚缺乏有效细致的分析,导致芯片安全设计和测评工作缺乏有力的理论依据.为此,...
- 李贺鑫王宇航
- 关键词：集成电路芯片安全测评电路原理
- 文献传递
- USB设备测试方法和测试设备
- 本发明提供了一种USB设备的测试方法，包括：根据USB通信协议向被测USB设备发送命令；以及采集被测USB设备在响应于所述命令而执行的操作期间的侧信道信号，其中：所述USB通信协议被配置成减小对所述侧信道信号造成的干扰。...
- 李贺鑫石竑松陈佳哲
- 文献传递
- SM4算法的S盒的生成方法及装置
- 本发明公开了一种SM4算法的S盒的生成方法、装置及电路。所述方法包括：将所述S盒在有限域GF(2<Sup>8</Sup>)中的元素经过同构映射矩阵映射到复合域GF(((2<Sup>2</Sup>)<Sup>2</Sup>...
- 王蓓蓓陈佳哲李贺鑫
- 文献传递
- SM4算法的掩码方法及装置
- 本发明公开了SM4算法的掩码方法及装置，该方法包括：获取输入的带掩码的明文、随机掩码、轮密钥；对带掩码的明文、随机掩码以及轮密钥中的第一轮密钥进行轮函数的第一轮运算，获得第一轮密文和第一轮掩码；对第一轮密文、第一轮掩码以...
- 王蓓蓓陈佳哲李贺鑫
- 文献传递
- 信号处理方法及装置
- 本发明公开了一种信号处理方法及装置，所述方法包括：在同一时间点，获得第一信号集，第一信号集中的信号为运行密码算法的密码模块的不同位置的信号或电阻的电压信号，第一信号集与密码算法的中间变量对应，第一信号集服从非正态分布；依...
- 陈佳哲王蓓蓓李贺鑫
- 文献传递
- 一种SOF包下发周期的处理方法及系统
- 本发明公开了一种SOF包下发周期的处理方法及系统，向USB设备发送密码运算命令，在USB设备执行密码运算命令的过程中，根据USB设备是否存在挂起时间调整SOF包的下发周期，当USB设备存在挂起时间时，将SOF包的下发周期...
- 王宇航李贺鑫陈佳哲张宝峰王蓓蓓
- 文献传递
- 按键型设备自动化测试电路和方法
- 本发明提供了一种按键型设备的自动化测试电路，该按键型设备包括芯片，该芯片的与第一按键相对应的第一按键管脚连接到第一节点，该测试电路包括：控制器，该控制器在所述第一节点上施加高电平或低电平来模拟第一按键的按下或松开操作。本...
- 李贺鑫石竑松陈佳哲
- 文献传递
