朱学亮
- 作品数：117 被引量：17H指数：2
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- 相关领域：机械工程理学自动化与计算机技术电子电信更多>>
- 一种共光路相移数字全息显微测量装置
- 本发明公开了一种共光路相移数字全息显微测量装置，包括沿光路方向依次固定设置的光纤激光器(1)、光纤准直器(2)、可调衰减器(3)、显微物镜(5)、平面平晶I(6)、平面平晶II(7)、压电陶瓷驱动器(8)、会聚透镜(9)...
- 刘丙才冯方田爱玲刘卫国王红军朱学亮岳鑫潘永强
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- 大口径大相对孔径抛物面反射镜面形误差的检测方法
- 本发明涉及一种大口径大相对孔径抛物面反射镜面形误差的检测方法。现有方法成本高、精度低其效率也较低。本发明的方法为选择透射标准镜头；调整激光波面干涉仪的位置；调整被测抛物面反射镜的焦点与激光波面干涉仪的焦点重合；调整被测抛...
- 刘丙才王红军王春慧朱学亮田爱玲潘永强杨皓聿鲍佳男
- 一种光谱共焦式透镜中心厚度测量方法及装置
- 本发明涉及一种光谱共焦式透镜中心厚度测量方法及装置。现有方法和装置在测量时存在的较大误差且耗时。所述测量方法是利用面阵相机和电视图像辅助定心，然后采用光谱共焦的手段测量光学透镜的中心厚度；保证测量对象的正确性，大大提高测...
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- 一种基于随机两步相移的面形检测方法
- 一种基于随机两步相移的面形检测方法，属于光学检测技术领域，本发明要解决现有技术对测量环境要求苛刻和测量误差大的问题。本发明所提供的技术方案是：随机获取两步相移干涉图，通过随机两步相移算法对这两幅干涉图进行相位解调；对解调...
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- 显微镜（透射式数字全息）
- 1．本外观设计产品的名称：显微镜（透射式数字全息）。;2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于测量透射物体的微纳米量级三维形貌及相位。;3．本外观设计产品的设计要点：产品的形状。;4．最能表明本外观设计设计要点的图片...
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- 双缝干涉条纹解码光谱共焦位移传感器及其位移测量方法
- 本发明涉及一种双缝干涉条纹解码光谱共焦位移传感器及其位移测量方法。目前光谱共焦位移传感器的光谱解析单元均采用光栅光谱仪，分光原理复杂，成本较高，探测波长会随着时间及环境发生漂移，影响到传感器的测量精度。本发明的传感器包括...
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- TIE和角谱迭代用于光学元件表面划痕深度检测
- 2023年
- 针对散射法在检测光学元件表面划痕时只能得到其光场分布而无法直接得到划痕深度信息的问题,将角谱迭代算法、光强传输方程(TIE)和角谱迭代结合的算法应用到光学元件表面划痕深度检测中。首先,采集光学元件表面的光场分布,分别利用两种重建算法得到表面划痕的相位分布,通过表面划痕对相位的调制特性计算出划痕深度;然后,从强度误差、相关系数及相对均方根误差来对两种算法的有效性进行评价;最后,通过实验验证了光学元件表面划痕深度重建结果的准确性。结果表明,与角谱迭代算法相比,TIE和角谱迭代相结合的算法重建划痕深度的相对误差更小,重建效果更好,重建精度更高。
- 孟昕王红军王大森田爱玲刘丙才朱学亮刘卫国
- 关键词：散射法
- 光谱共焦扫描共光路数字全息测量系统及测量方法
- 本发明为一种光谱共焦扫描共光路数字全息测量系统及测量方法，其克服了现有技术中存在的仅适用于待测物体表面反射或透射形成的相位变化测量，无法实现透明物体各分层界面微观形貌的高精度、非接触、同步三维形貌测量。本发明包括依次设置...
- 田爱玲张英鸽刘丙才钱晓彤王红军朱学亮岳鑫刘卫国
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- 一种光学元件亚表面缺陷深度信息的检测装置及检测方法
- 本发明涉及一种光学元件亚表面缺陷深度信息的检测装置及检测方法，由光源调制组件、缺陷深度检测组件、二维移动平台以及计算机控制平台组成，所述光源调制组件的光路垂直于二维移动平台布置，从上至下依次包括紫外激光器、窄带滤光片，光...
- 田爱玲邱啸天张英鸽王红军王春阳刘雪莲刘丙才朱学亮
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- 激光光束远距离传输的特性参数试验系统及其工作过程
- 本发明涉及一种激光光束远距离传输的特性参数试验系统及其工作过程。以利用光电数字化技术、自动控制技术的优势来测试大气中的激光信号，以达到对激光在不同传输距离上性能参数的测试。本发明系统是以光学平台的台面为整个系统的基准面，...
- 王红军解格飒陈晨胡雪媛田爱玲朱学亮刘丙才
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