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杨新文

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：中国工程物理研究院更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇国内会议论文

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇涂层
  • 1篇系统开发
  • 1篇面密度
  • 1篇厚度

机构

  • 1篇中国工程物理...

作者

  • 1篇杨新文
  • 1篇钟文勇
  • 1篇唐胜江

年份

  • 1篇2006
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
电子学系统涂层检测系统开发
为了解决电子学系统中涂层面密度、厚度等性能参数的快速、可靠检测,利用塞多利斯LA4200S电子天平、涂层厚度测量仪等程控仪器,根据屏蔽件涂层检测工艺流程特点分别设计开发检测计划管理模块、数据库管理模块、检测数据报告单模板...
钟文勇唐胜江杨新文
关键词：涂层厚度面密度
文献传递
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共1页<1>
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