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桂江华

作品数：59 被引量：23H指数：2
供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 53篇专利
  • 6篇期刊文章

领域

  • 18篇自动化与计算...
  • 7篇电子电信

主题

  • 29篇电路
  • 16篇集成电路
  • 10篇信号
  • 9篇总线
  • 9篇接口
  • 8篇时钟
  • 7篇信号处理
  • 6篇自适应
  • 6篇抗辐照
  • 6篇复用
  • 5篇电路技术
  • 5篇电路设计
  • 5篇多通道
  • 5篇窄带
  • 5篇窄带信号
  • 5篇冗余
  • 5篇三模冗余
  • 5篇集成电路技术
  • 4篇单端
  • 4篇硬件开销

机构

  • 58篇中国电子科技...
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 59篇桂江华
  • 17篇魏敬和
  • 13篇于宗光
  • 9篇周昱
  • 8篇王亚军
  • 8篇邵健
  • 7篇张荣
  • 7篇邹家轩
  • 6篇汤赛楠
  • 5篇徐睿
  • 5篇钱黎明
  • 4篇陈珍海
  • 4篇薛颜
  • 3篇王淑芬
  • 2篇张玲
  • 2篇罗晟
  • 2篇周毅
  • 2篇卓琳
  • 2篇杨露
  • 2篇申柏泉

传媒

  • 4篇电子与封装
  • 1篇微电子学
  • 1篇中国电子科学...

年份

  • 4篇2024
  • 1篇2023
  • 10篇2022
  • 11篇2021
  • 9篇2020
  • 1篇2019
  • 4篇2018
  • 4篇2017
  • 3篇2016
  • 4篇2015
  • 1篇2014
  • 3篇2013
  • 1篇2012
  • 2篇2011
  • 1篇2010
共 59 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
一种基于FPGA的SoC原型验证系统
本发明公开一种基于FPGA的SoC原型验证系统，属于SoC芯片设计技术领域。所述基于FPGA的SoC原型验证系统包括FPGA、SPI模块、SCI模块、GMAC模块、CAN模块、AD9653模块、ADS5409模块、AD9...
侯庆庆桂江华李文学魏江杰杨楚玮杨露
基于PCIe总线的处理层设计方法、结构及应用
本发明属于SoC技术领域，具体涉及一种基于PCIe总线的处理层设计方法、结构及应用，包括如下步骤：利用应用接口层TLP生成器子模块提供的参数和数据生成TLP包，然后发送传输给处理层；TLP包进入处理层后，在发送端VC多路...
董利桂江华魏江杰殷庆会
基于三模冗余的防御硬件木马威胁的电路安全性设计方法
本发明提供一种利用三模冗余来保障原始电路即使被恶意植入硬件木马也能够稳定工作的电路安全性设计方法。首先在完成原始电路设计与验证后，将各种常规测试无法覆盖到的逻辑节点选出，并作为输出节点。其次，将输出节点作为终点向扇入（f...
周昱桂江华张荣吴迪王淑芬汤赛楠
文献传递
一种高速ADC数据传输的位同步方法
本发明公开一种高速ADC数据传输的位同步方法，属于SoC技术领域。在差分转单端电路后依次插入相位调节电路、时序检测电路和时序控制电路；通过所述时序检测电路反馈被检测信号的时序状态及状态类型，由所述时序控制电路调整所述相位...
王亚军吴江桂江华
一种在EDA仿真中自适应生成ATE测试码的方法
本发明公开一种在EDA仿真中自适应生成ATE测试码的方法，属于数字集成电路EDA仿真领域。对被测电路进行ATE测试；根据所述被测电路的管脚，编写管脚信息文件；根据所述管脚信息文件，利用自动生成脚本生成测试码抓取模块和例化...
邵健桂江华胡鹏 张磊 姜若旭
一种异步SRAM控制器及调试方法
本发明公开一种异步SRAM控制器及调试方法，属于集成电路技术领域。所述异步SRAM控制器包括主机模块、从机读模块、读完成模块和写完成模块；首先主机模块接收外部环境对SRAM控制器的读请求，经过信息交互将读请求发送给从机读...
董利桂江华赵达
文献传递
一种可编程高速接口数据输出装置
本发明提供了一种可编程高速接口输出数据输出装置。其包括数据缓存模块、数据输出控制模块、数据输出分配模块、数据输出模块、配置模块及状态记录模块。数据缓存模块将待输出的数据进行收集；数据输出分配模块通过读取数据缓存模块的异常...
邹家轩魏敬和于宗光徐睿王栋桂江华
文献传递
一种IP复用下检纠查存储器数据准确性的方法
本发明公开一种IP复用下检纠查存储器数据准确性的方法，属于SoC技术领域。在系统总线与存储器控制器之间插入具有纠检错功能的转接桥，用于扩展存储器控制器的数据位宽，增加校验位；所述转接桥提供校验位的存储空间，与系统总线的数...
王亚军杨亮桂江华董利匡正阳
一种用于多通道ADC的增益失配误差校准电路
本发明提供了一种用于多通道ADC的增益失配误差校准电路，属于集成电路技术领域。所述用于多通道ADC的增益失配误差校准电路包括基准电压产生电路、基准电压远程驱动电路、M个基准电压调整电路、M通道的N位模数转换器、M个N位输...
于宗光陈珍海占林松魏敬和薛颜张玲桂江华张荣
文献传递
SOC中的MBIST设计被引量：2
2011年
随着超大规模集成电路的发展,设计的集成度越来越高,基于IP的SOC设计正在成为IC设计的主流。为了确保SOC的功能正确,可测性设计(Design for Test,简称DFT)显得尤为关键。DFT设计包括扫描设计、JTAG设计和BIST设计。另外,当前SOC芯片中集成了大量的存储器,为了确保存储器没有故障,基于存储器的内建自测试显得很有必要。文章主要阐述如何用ARM JTAG来控制MBIST,这样既能节约硬件开销又能达到DFT设计的目的。
桂江华钱黎明申柏泉周毅
关键词：SOCJTAG内建自测试
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