您的位置: 专家智库 > >

罗晓羽

作品数:9 被引量:7H指数:1
供职机构:中国电子技术标准化研究院更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术军事经济管理更多>>

文献类型

  • 6篇期刊文章
  • 2篇标准
  • 1篇专利

领域

  • 4篇电子电信
  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇经济管理
  • 1篇军事

主题

  • 4篇电路
  • 4篇集成电路
  • 2篇闪存
  • 2篇快闪存储器
  • 2篇半导体
  • 2篇半导体集成
  • 2篇半导体集成电...
  • 2篇存储器
  • 1篇信息化
  • 1篇异常检测
  • 1篇失效特征
  • 1篇数据保持
  • 1篇数据库
  • 1篇片上系统
  • 1篇评测
  • 1篇评测方法
  • 1篇系统级芯片
  • 1篇芯片
  • 1篇耐久
  • 1篇静电

机构

  • 8篇中国电子技术...
  • 1篇中国电子技术...
  • 1篇中国电子科技...
  • 1篇杭州万高科技...
  • 1篇芯天下技术股...
  • 1篇合肥美菱物联...
  • 1篇北京兆易创新...
  • 1篇北京芯可鉴科...
  • 1篇北京智芯微电...

作者

  • 9篇罗晓羽
  • 3篇刘芳
  • 2篇李锟
  • 2篇周俊
  • 1篇刘学孔

传媒

  • 3篇信息技术与标...
  • 1篇中国标准化
  • 1篇环境技术
  • 1篇质量与认证

年份

  • 2篇2024
  • 2篇2023
  • 1篇2020
  • 2篇2018
  • 1篇2014
  • 1篇2008
9 条 记 录,以下是 1-9
排序方式:
标准化军民融合创新实践的典型示范被引量:1
2018年
围绕集成电路军民通用标准建设试点工作,开展试点任务的评价工作,推动重点企业应用标准;评估典型标准的实施效果,完善标准的反馈机制;加强标准试点的示范作用,在全行业、全领域推广实施,扩大试点成果的影响;加强军民通用标准研制经验总结和模式提炼,进一步健全可复制的军民通用标准研制模式,探索完善军民通用标准全寿命周期的工作机制。
尹航李锟王琪周俊罗晓羽安琪刘芳
关键词:集成电路军民融合
半导体集成电路 片上系统(SoC)
本文件规定了片上系统(SoC)的技术要求、电测试方法和检验规则。<br />本文件适用于片上系统(SoC)的设计、制造、采购、验收。
罗晓羽徐平江钟明琛赵扬邵瑾陈燕宁朱松超王于波张海峰梁路辉夏军虎何杰
系统级芯片质量保证要求研究
2014年
介绍了系统级芯片的基本概念,重点研究了系统级芯片质量保证环节存在的设计验证与测试方面的问题,在此基础上提出了系统级芯片质量保证要求的主要研究思路,包括确定系统级芯片设计验证及测试的程序和要求、确定IP核质量保证要求等,并提出了相关标准的制定建议。
罗晓羽
关键词:系统级芯片
HBM、CDM静电放电模型及其失效特征研究被引量:3
2023年
本文介绍了人体模型、带电器件模型两种典型的静电放电模型,对人体模型、带电器件模型的区别、静电放电失效机理进行了说明。通过对芯片进行人体模型、带电器件模型静电放电极限测试,获取不同静电放电模型芯片失效电压及其失效特征。实验结果表明,芯片抵抗人体模型、带电器件模型静电放电的能力没有直接关系,并不是抵抗人体模型静电放电能力强,耐带电器件模型静电放电能力就高;人体模型、带电器件模型静电放电极限测试后芯片损伤位置、损伤形貌存在差异。
刘信罗晓羽万永康江徽汪小青
关键词:静电放电失效特征
军用IP核评测方法
本发明涉及IP核评测技术领域,具体涉及军用IP核评测方法。通过明确待检测IP核的检测结果判断是否对待检测IP核所对应的检测设备进行风险判断监测,结合前检测批次D<Sub>p</Sub>下的异常检测项目的DQ<Sub>l<...
李锟周俊刘芳罗晓羽 温孝谦刘学孔 周钦沅
半导体集成电路 快闪存储器(FLASH)
本文件规定了快闪存储器(FLASH)的分类、技术要求、电测试方法和检验规则。本文件适用于FLASH的设计、制造、采购、验收。
罗晓羽何卫辛钧胡洪苏志强李东琦韩旭龙冬庆张静李柏泉王如松李敬李海龙
电子行业标准制修订项目计划管理信息化的实现被引量:1
2008年
论述了推进电子行业标准制修订项目计划管理信息化的必要性,并提出了具体措施;详细介绍了电子行业标准制修订项目计划管理数据库的设计思路和实现方法。阐述了对后续工作的几点思考。
罗晓羽
关键词:管理信息化数据库
大规模集成电路产品标准中抽样方案要求分析被引量:1
2020年
对国内外标准中规定的大规模集成电路抽样方案要求进行了梳理,分析了上述抽样方案的内涵以及我国现行标准中规定的抽样方案要求对于当前大规模集成电路的适用性,研究提出了在大规模集成电路产品标准中确立有别于通用标准规定的特殊抽样方案要求的思路和建议。
罗晓羽
关键词:大规模集成电路抽样方案
与非型快闪存储器可靠性评价方法分析被引量:1
2018年
针对与非型快闪存储器(NAND FLASH)的耐久、数据保持、编程干扰、读干扰等可靠性指标,分析当前可靠性评价中面临的困扰及国内外现有研究基础;根据其失效机理,研究提出各项指标的评价方法,以及试验应力的选取思路。
罗晓羽刘芳高硕
关键词:耐久数据保持
共1页<1>
聚类工具0