蔡建荣
- 作品数：13 被引量：11H指数：3
- 供职机构：中国电子科技集团第二十四研究所更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术文化科学更多>>
- 适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具及测试方法
- 本发明涉及一种适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具及测试方法，包括底座，所述底座上水平设置有限制位挡板，所述限制位挡板上设置有支撑组件；所述底座上还设置有PCB板固定结构，所述PCB板固定结构上设置有PCB板，所述PCB板...
- 李胜玉罗俊邱忠文谭骁洪应广祺余航吴兆希蔡建荣岑政张玲
- 一种基于单片机的测试系统设计
- 2020年
- 本文介绍了一种运用STC单片机来控制继电器阵列,从而实现对多个分立器件或含有多个重复单元的小型集成电路进行测试的测试系统,文中阐述了该系统的组成结构和构建方法,并较为详细的说明了器件的参数的测试原理和测试过程,对解决类似分立器件或集成电路的测试问题解决有较为实用的意义。
- 蔡建荣邱忠文吴兆希赵茂霖
- 关键词：STC单片机分立器件测试系统集成电路
- 背漏极MOSFET晶圆动态参数测试结构及方法
- 本发明涉及一种背漏极MOSFET晶圆动态参数测试结构及方法，包括晶圆托盘和漏极测试板，所述漏极测试板的背面紧密贴合在晶圆托盘的侧面上，所述漏极测试板的背面设置有D极连接部；所述漏极测试板的正面设置有测试线连接部和电源线连...
- 岑政向飞蔡建荣罗寻罗俊杨晓强韩星吴兆希王祖正
- 一种无外引出线芯片级器件测试平台及其使用方法
- 本发明属于自动化测试技术领域，特别是一种无外引出线芯片级器件测试平台；本平台包括导轨支架、探针组件、器件固定底板以及平台底座；导轨支架包括一个载物台、两根金属杆和U型框架，载物台活动设置在金属杆上，金属杆的一端与U型框架...
- 蔡建荣邱忠文秦国林罗俊吴兆希李晓红谭骁洪杨勇杨迁朱朝轩
- 文献传递
- MOS管毫欧级导通电阻测试方法被引量：4
- 2019年
- 本文通过介绍MOS管导通电阻测试的原理,分析了常用方法造成毫欧级导通电阻测试结果不准确的因素,详细介绍了导通电阻测试的两种改进方法-间接测试法和直接测试法,同时给出了两种方法的测试原理,并通过实际的测试结果,证明了这两种改进方法能够切实满足测试需求,对解决类似的MOS管导通电阻测试问题有较为实用的意义。
- 秦国林许娟蔡建荣杨勇刘星宇
- 关键词：导通电阻
- 高性能模拟集成电路检测技术
- 秦国林黎云浩蔡建荣高杰胡波罗俊林震邱忠文吴兆希邢宗锋
- 该成果对模拟集成电路测试开发过程中交流参数测试的现状和测试方法进行深入总结，对运算放大器、A/D转换器、D/A转换器、可编程增益放大器等四大类高性能模拟集成电路的交流参数定义进行分类，对传统交流参数测试方法与基于数字信号...
- 关键词：
- 关键词：模拟集成电路
- MOS器件动态参数测试方法研究被引量：3
- 2020年
- 本文介绍了MOS器件部分动态参数的测试方法,较为详细的阐述了MOS器件的动态参数的测试原理和测试过程,对解决MOS器件动态参数测试问题有较为实用的意义。
- 蔡建荣罗俊邱忠文赵茂霖
- 关键词：MOS器件动态参数开关时间
- TOPSwitch集成电路在DC/DC电源设计中的应用被引量：4
- 2003年
- 文章介绍了PWM/MOSFET二合一的TOPSwitch系列集成电路及其在DC/DC电源设计中的应用,还介绍了基本反馈方式的DC/DC拓扑结构及其改进措施,并对由TOPSwitch集成电路构成的DC/DC电源进行了抗中子实验。
- 余海生蔡建荣刘健
- 关键词：DC/DC电源电源设计拓扑结构集成控制器
- 芯片检测装置
- 本发明涉及芯片检测装置技术领域，公开了一种芯片检测装置，包括底座、夹具单元、检测单元、设在底座上的位置调节单元以及关停单元，夹具单元包括支承板以及设置在底座上的调节部，支承板的顶面上开设有限位槽；检测单元的检测部分设置在...
- 蔡建荣吴兆希罗俊邢宗锋岑政代薇薇石金艳叶思楠
- VLSI测试技术现状及发展趋势
- 近年来，随着集成电路制造工艺的飞速发展，集成电路制造技术已从深亚微米进入到纳米技术阶段，集成电路系统集成度得到迅速提高，超大规模集成电路测试技术已逐渐成为制约集成电路研发成本和周期的“瓶颈”。全面介绍了VLSI的主要测试...
- 刘丹妮罗俊邱忠文徐学良王健安蔡建荣
- 关键词：微处理器超大规模集成电路
