谭超元
- 作品数：3 被引量：3H指数：1
- 供职机构：中国赛宝实验室更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 露点测试技术及其计算机辅助测试系统
- 1994年
- 1 引言 众所周知,内部水汽含量过高是导致铝金属化腐蚀(即长“白毛”)失效的主要原因。为了确保器件的可靠性,必须对器件的内部水汽含量指标进行严格考核。为此,必须有一种能对密封器件的内部水汽含量进行有效测试的方法。利用质谱方法进行的残余气体分析技术是最早获得人们认可的内部水汽含量检测技术。但是,这种技术太复杂、太昂贵,一般的实验室和生产厂都用不起,必须另找一种既经济又方便的替代方法。露点测试技术是MIL-STD-883和GJB548-88所推荐的、既经济又方便的替代方法之一。过去,由于我们国内缺乏这方面的检测技术,一直无法对器件的内部水汽含量进行检测考核。随着国军标的贯彻实施,器件的内部水汽含量必将成为一项必须考核的质量指标。因此,尽快开发出我们自己的内部水汽含量检测技术,是摆在我们面前的迫切任务。为了填补国内在这一领域的空白,我们从1987年开始,进行了露点测试技术的开发研究。经过两年多的研究,终于成功地开发出这种露点技术及其计算机辅助测试系统。随后,又将这一技术应用到我们承担的多项研究分析任务中,收到了良好的效果。
- 陈三廷郑廷圭谭超元徐爱斌
- 关键词：电子器件计算机
- 电机伺服电路HMS501J的失效模拟和定位分析
- 介绍了电路的失效分析和失效定位技术，并利用这种技术对电机驱动电路HMS501J进行了失效定位，分析的结果与实际情况基本一致。
- 师谦谭超元
- IDDQ测试技术及其实现方法被引量：3
- 1999年
- ＩＤＤＱ（即静态电源电流）测试是近几年来国外比较流行的ＣＭＯＳ集成电路测试技术。ＩＤＤＱ测试能够检测出传统的固定值故障电压测试（即ＳＡＦ功能测试）所无法检测的ＣＭＯＳ集成电路内部的缺陷（如氧化层短路，穿通等），所以，能够明显提高ＣＭＯＳ集成电路的使用可靠性。本文叙述了ＩＤＤＱ测试的基本原理和ＩＤＤＱ测试在集成电路测试系统上的实现方法及测试实例。
- 谭超元钟征宇
- 关键词：电流测试CMOS可靠性集成电路
