薛萌
- 作品数：3 被引量：0H指数：0
- 供职机构：西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金中央级公益性科研院所基本科研业务费专项国家杰出青年科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 考虑工艺波动的RC互连树统计功耗
- 2011年
- 为了有效分析考虑工艺波动的RC互连树统计功耗,本文首先给出了考虑工艺波动的互连寄生参数和输入驱动点导纳矩的构建方法,然后,推导得出了互连功耗均值与标准差的表达式.计算结果表明,与目前广泛应用的Monte Carlo分析方法相比,采用本文方法得到的RC互连功耗均值误差小于4.36%,标准差误差则小于6.68%.结果显示,本文方法在确保精度的前提下大大缩短了仿真时间.
- 董刚薛萌李建伟杨银堂
- 关键词：工艺波动
- 考虑工艺波动的互连功耗分析
- 随着超大规模集成电路技术的飞速发展,互连工艺波动问题已经成为了影响集成电路设计与制造的重要因素。本文着重研究超大规模集成电路中互连工艺波动对互连功耗的影响。通过分析IC互连线几何参数波动对互连寄生参数的影响,得到其近似的...
- 薛萌
- 关键词：互连工艺波动功耗统计模型
- 文献传递
- 基于双电源电压和双阈值电压的全局互连性能优化
- 2011年
- 基于双电源电压和双阈值电压技术,提出了一种优化全局互连性能的新方法.文中首先定义了一个包含互连延时、带宽和功耗等因素的品质因子用以描述全局互连特性,然后在给定延时牺牲的前提下,通过最大化品质因子求得优化的双电压数值用以节省功耗.仿真结果显示,在65nm工艺下,针对5%,10%和20%的允许牺牲延时,所提方法相较于单电压方法可分别获得27.8%,40.3%和56.9%的功耗节省.同时发现,随着工艺进步,功耗节省更加明显.该方法可用于高性能全局互连的优化和设计.
- 董刚刘嘉薛萌杨银堂
- 关键词：功耗
