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吴焯焰

作品数：2 被引量：5H指数：1
供职机构：华南理工大学更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇硬件
  • 1篇硬件仿真
  • 1篇硬件模型
  • 1篇软件模型
  • 1篇片上系统
  • 1篇片上系统芯片
  • 1篇嵌入式
  • 1篇嵌入式存储
  • 1篇嵌入式存储器
  • 1篇自测试
  • 1篇系统芯片
  • 1篇芯片
  • 1篇内建自测试
  • 1篇解码
  • 1篇解码模块
  • 1篇解码算法
  • 1篇故障检测
  • 1篇仿真
  • 1篇编解码
  • 1篇编解码模块

机构

  • 2篇华南理工大学

作者

  • 2篇吴焯焰
  • 1篇闾晓晨
  • 1篇王颂辉
  • 1篇郑学仁
  • 1篇孙华义

传媒

  • 1篇中国集成电路

年份

  • 2篇2007
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
嵌入式存储器内建自测试的一种新型应用被引量：5
2007年
当今,嵌入式存储器在SoC芯片面积中所占的比例越来越大,成为SoC芯片发展的一个显著特点。由于本身单元密度很高,嵌入式存储器比芯片上面的其它元件更容易造成硅片缺陷,成为影响芯片成品率的一个重要因素。本文对采用MARCH-C算法的嵌入式存储器内建自测试进行了改进,实现了对嵌入式存储器故障的检测和定位,能够准确判断故障地址和故障类型,使嵌入式存储器故障修复更加快捷、准确,同时达到故障覆盖率高、测试时间短的目的。
孙华义郑学仁闾晓晨王颂辉吴焯焰
关键词：SOC嵌入式存储器MARCH算法故障检测
应用于SOC的里德所罗门编解码IP的研究与设计
随着半导体技术的发展，芯片的规模变得越来越大，功能越来越强。片上系统的设计概念应用的越来越广泛。随着片上系统中所需要控制的储存器的容量越来越大，数据的误码率也相应的增加，因此需要在片上系统中集成一些纠错模块去对错误的数据...
吴焯焰
关键词：编解码算法片上系统芯片编解码模块硬件仿真硬件模型软件模型
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