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合肥光源电子束流能量标定的前期研究: 在合肥储存环上利用共振退极化的方法建立一套测量电子束能量的装置，进行了物理计算，并且搭建了利用测量束流损失来测量托歇克寿命相对变化的装置，利用这个装置测量了托歇克寿命造成的束流损失相对的变化，以期用这个的束损测量系统监测...; 徐宏亮孙葆根张剑锋许炳黄贵荣; 关键词：束流能量储存环

合肥光源束流能量标定装置: 2007年; 为在合肥光源储存环上利用共振退极化的方法建立一套测量电子能量的装置,计算了储存环电子束流建立极化的时间、退极化场的分布、激发条带的功率以及退极化时间,并且利用束损系统测量了由于耦合度和腔压变化造成的束流托歇克的变化,以期用现有的束损系统监测退极化造成的束流托歇克的变化.; 张剑锋徐宏亮王琳黄贵荣孙葆根李珏忻何多慧; 关键词：束流能量

一种定时测量方法及时间数字变换器: 本公开提供了一种定时测量方法及时间数字变换器，定时测量方法包括：通过被测信号触发振荡环产生振荡脉冲，直至振荡脉冲与系统时钟对齐；振荡脉冲与系统时钟对齐后，产生结束信号；通过结束信号计算被测信号的出现时刻。该方法使用的内插...; 王永纲张剑锋; 文献传递

合肥电子储存环束流不稳定性的抑制: 2005年; 合肥光源二期工程改造的电子储存环调试过程中,发现多束团存储和运行时存在耦合束团不稳定性,严重地限制了注入的最高流强,并且影响了光源运行的质量。通过过正地增大正色品以及在储存环上插入八极磁铁,基本上抑制了横向的耦合束团不稳定性,保证了稳定注入束流300mA的技术指标。; 徐宏亮王琳孙葆根张剑锋李为民刘祖平何多慧; 关键词：色品高次模

一种定时测量方法及时间数字变换器: 本公开提供了一种定时测量方法及时间数字变换器，定时测量方法包括：通过被测信号触发振荡环产生振荡脉冲，直至振荡脉冲与系统时钟对齐；振荡脉冲与系统时钟对齐后，产生结束信号；通过结束信号计算被测信号的出现时刻。该方法使用的内插...; 王永纲张剑锋; 文献传递

电子储存环上束流自发极化的研究及应用: 储存环上电子的电磁辐射会导致束流自发极化的建立。不考虑储存环上的退极化效应，电子储存环上束流的自发极化可以高达92.38％。电子束流的这种特性可用做储存环上束流的测量诊断手段，用于束流的能量以及线性和非线性动量紧缩因子的...; 张剑锋; 关键词：电子储存环电子自旋; 文献传递

合肥光源托歇克效应损失电子的探测被引量：3: 2011年; 束流寿命是衡量储存环性能的重要参数,直接影响着光源的正常运行。对于合肥光源(HLS),托歇克(Touschek)寿命是影响束流寿命的重要因素。为了研究Touschek寿命,需要探测由于Touschek效应所损失的电子。介绍了束流寿命的概念,说明了Touschek效应的原理和机制,利用蒙特卡罗软件EGSnrc模拟计算了丢失电子与真空壁的相互作用,通过塑料闪烁体探测器和光电倍增管获得了由于Touschek效应丢失的电子所产生的信号,然后将信号经过放大甄别和符合处理后,用计数器测量了计数率。结果表明:由于Touschek效应而成对丢失的电子的确存在,且电子损失率随流强的降低而减小。这为下一步储存环的能量标定工作做好了前期准备。; 孙玉聪蓝杰钦张剑锋徐宏亮孙葆根; 关键词：合肥光源束流寿命蒙特卡罗方法

合肥电子储存环自旋响应函数的计算被引量：2: 2006年; 对电子储存环共振退极化标定能量的原理和步骤进行了描述,重点讨论了在合肥光源(HLS)共振退极化标定电子能量的方法中自旋响应函数的计算,给出自旋响应函数在HLS储存环一个单位周期上的分布。在将来的HLS的退极化实验中,退极化场位置处的自旋反馈函数为1.569 m,根据退极化场的计算结果,需要的退极化时间为60 s。; 张剑锋徐宏亮孙葆根; 关键词：极化

Prophase Study of Electron Beam Energy Calibration for HLS: 2008年; To bulid the set-up for energy calibration of electron beam by the method of resonant depolarization in HLS,physics calculation is finished,and the beam loss monitor system to measure the relative change of Touscheck lifetime made.With this system,the beam loss of Touscheck lifetime is measured.The change of Touscheck lifetime is expected to be measured due to depolarization.; 徐宏亮孙葆根张剑锋许炳黄贵荣

合肥储存环电子束流寿命分析被引量：5: 2006年; 电子束流寿命是个很重要的指标,直接影响合肥光源的正常运行,为此研究了影响束流寿命的因素,测量了高频腔压、耦合度以及束团长度对电子束流寿命的影响,研究显示合肥储存环的电子束流真空寿命和托歇克寿命相当;并且利用束损系统测量了因托歇克寿命的变化而造成束流损失的相对变化;通过增加耦合度增加束流的垂直发射度,有效地提高了束流的寿命,保证了合肥光源的正常运行。; 徐宏亮张剑锋黄贵荣孙葆根李珏忻何多慧; 关键词：真空寿命耦合度束流损失

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