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张旻晋

作品数:7 被引量:5H指数:2
供职机构:中国科学院计算技术研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 2篇会议论文
  • 2篇科技成果
  • 1篇学位论文

领域

  • 4篇电子电信
  • 3篇自动化与计算...

主题

  • 5篇电路
  • 4篇电路测试
  • 4篇集成电路
  • 4篇串扰
  • 3篇集成电路测试
  • 2篇噪声
  • 2篇分析方法
  • 2篇串扰噪声
  • 1篇调度
  • 1篇优化调度
  • 1篇设计方法
  • 1篇时延测试
  • 1篇数字电路
  • 1篇数字集成电路
  • 1篇自动测试设备
  • 1篇网络
  • 1篇网络路由
  • 1篇网络路由器
  • 1篇向量
  • 1篇芯片

机构

  • 7篇中国科学院
  • 1篇中国科学院研...
  • 1篇中国科学院大...

作者

  • 7篇张旻晋
  • 4篇李华伟
  • 4篇李晓维
  • 2篇韩银和
  • 1篇付祥
  • 1篇边计年
  • 1篇王达
  • 1篇鄢贵海
  • 1篇王飞
  • 1篇王天成
  • 1篇邓澍军
  • 1篇吕涛
  • 1篇吴明行
  • 1篇胡瑜
  • 1篇张颖

传媒

  • 1篇计算机学报
  • 1篇计算机辅助设...

年份

  • 2篇2010
  • 2篇2009
  • 1篇2008
  • 1篇2007
  • 1篇2006
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
面向串扰时延效应的时序分析方法及在集成电路测试中的应用被引量:3
2007年
随着特征尺寸进入纳米尺度,相邻连线之间的电容耦合对电路时序的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效.准确和快速地估计电路中的串扰效应影响,找到电路中潜在的串扰时延故障目标,并针对这些故障进行测试是非常必要的.文中提出了一种基于通路的考虑多串扰引起的时延效应的静态时序分析方法,该方法通过同时考虑临界通路及为其所有相关侵略线传播信号的子通路来分析多串扰耦合效应.该方法引入了新的数据结构"跳变图"来记录所有可能的信号跳变时间,能够精确地找到潜在的串扰噪声源,并在考虑串扰时延的情况下有效找到临界通路及引起其最大串扰减速效应的侵略子通路集.这种方法可以通过控制跳变图中时间槽的大小来平衡计算精度和运行时间.最后,文中介绍了在基于精确源串扰通路时延故障模型的测试技术中,该静态时序分析方法在耦合线对选择和故障敏化中的应用.针对ISCAS89电路的实验结果显示,文中提出的技术能够适应于大电路的串扰效应分析和测试,并且具有可接受的运行时间.
张旻晋李华伟李晓维
关键词:串扰静态时序分析时延测试
高性能处理器的设计验证与测试方法
李华伟韩银和吕涛边计年李晓维张旻晋付祥邓澍军王天成
在高性能处理芯片的测试方面,深入研究了3X测试压缩方法、时延/串扰测试方法等,创新地提出了:1)X-COnfig激励压缩/解压缩技术X-TOlerant响应压缩技术,解决I/O管脚数增长速度远低于集成电路晶体管数的增长速...
关键词:
关键词:高性能处理器芯片
面向串扰的时延测试方法
李华伟张旻晋张颖鄢贵海王达
随着VLSI工艺特征尺寸向超深亚微米、纳米级的持续推进,芯片内部速度不断增加,与性能相关的缺陷日趋严重,各种噪声效应引起的信号完整性问题对VLSI系统的性能产生重大影响,特别是互连线之间串扰带来的时延改变不容忽视,对于芯...
关键词:
关键词:网络路由器设计方法
面向最大串扰噪声的测试生成方法
随着特征尺寸进入纳米尺度,相邻连线之间的电容耦合对电路的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效。本文提出了一种针对耦合多条侵略线的受害线上最大噪声的新测试方法。这种方法基于多串扰脉冲故障模型,能够有效的模型化故障并生成...
张旻晋李华伟李晓维
关键词:串扰电路测试
文献传递
数字电路串扰故障的分析与测试生成研究
随着集成电路工艺特征尺寸的进一步细化,相邻连线之间的串扰对电路功能与定时(timing)的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效。准确和快速地找到潜在的串扰故障,并针对这些故障进行测试是非常必要的。串扰对电路的负面影响...
张旻晋
关键词:数字集成电路
集成电路测试设备资源的优化配置方法研究与实现
新一代的自动测试设备具有更丰富的可配置资源,但同时也使得传统的手工配置测试资源的方法变得十分困难。为自动优化配置测试资源,本文提出了测试向量格式压缩方法、基于Huffman 树结构的测试向量分组方法和基于模拟退火算法的测...
王飞吴明行张旻晋韩银和胡瑜李晓维
关键词:集成电路测试测试向量自动测试设备模拟退火优化调度
文献传递
面向最大串扰噪声的测试生成方法被引量:2
2009年
随着特征尺寸进入纳米尺度,相邻连线之间的电容耦合对电路的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效.为此提出一种面向受害线上最大串扰噪声的测试生成方法,该方法基于多串扰脉冲故障模型,能够有效地模型化故障并生成合适的向量.为了能够激活尽可能多的侵略线以造成受害线上的最大脉冲噪声,首先将测试生成问题转化为一个加权的最大可满足问题,再使用解题器求解,以得到测试向量;此外,将子通路约束加入到可满足问题的描述之中,以保证所有被激活的侵略线能够同时跳变.针对ISCAS89电路的实验结果显示,文中方法适用于较大规模电路的串扰噪声测试,并且具有可接受的运行时间.
张旻晋李华伟李晓维
关键词:串扰集成电路测试
共1页<1>
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