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胡振邦

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：华润上华科技股份有限公司更多>>
相关领域：电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇国内会议论文

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇氧化物
  • 1篇氧化物半导体
  • 1篇功率VDMO...
  • 1篇半导体

机构

  • 1篇华润上华科技...

作者

  • 1篇胡振邦

传媒

  • 1篇中国电器工业...

年份

  • 1篇2009
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
功率VDMOS器件可靠性及应用失效分析
功率VDMOS属于分立器件，以其高开关速度、低损耗等特点而应用广泛。由于功率VDMOS的工作条件恶劣，在高温大电压的应用环境下失效概率较大。本文总结和简述了VDMOS在可靠性考核和实际应用中的一些典型失效分析过程和方法，...
胡振邦
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