茹志芹
- 作品数：20 被引量：15H指数：2
- 供职机构：中国电子科技集团第十三研究所更多>>
- 发文基金：河北省自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信电气工程理学机械工程更多>>
- 多芯片贴片式LED器件结温测量
- 2013年
- 结温是多芯片LED器件热性能的关键参数。以SMD5050 LED器件为例,研究了多芯片贴片式LED器件结温测量方法。SMD5050 LED是一种多芯片贴片式封装的LED器件,器件内封装有3颗芯片,3颗芯片之间并联。根据单芯片LED器件热阻测试原理,模拟SMD5050 LED器件正常工作时的状态,对SMD5050 LED器件的结温进行了测量,并根据LED芯片特性,验证了测量结果的准确性,这种方法适用于封装结构相似的其他多芯片LED器件结温的测量。
- 刘东月彭浩茹志芹黄杰徐立生
- 关键词：多芯片结温
- 半导体照明灯具功率因数测试分析被引量：3
- 2018年
- 交流LED照明产品作为非线性负载,其功率因数受谐波电流影响很大。为减少功率因数测量仪器测量频率范围之外的高频信号的干扰,避免影响测试结果,功率测量仪器通常会配置一个抗混叠滤波器。但不同制造厂商或不同型号测量仪器所配置的抗混叠滤波器的截止频率范围不同。这便对功率因数的测试结果产生了影响。在检测工作中,经常会遇到同一只被测样品使用不同的功率测试仪,功率因数测试结果差异却很大的问题。甚至同一台仪器进行不同的滤波参数设置所测得的结果差异也很大。本文通过不同测试仪器测得的数据对这一问题进行描述和分析,以为检测工作和测量仪器设计工作提供参考。
- 茹志芹刘东月黄杰
- 关键词：LED照明产品功率因数谐波电流滤波截止频率
- 半导体器件结到壳热阻测试研究被引量：2
- 2016年
- 到壳热阻是衡量半导体器件热性能的重要参数。详细介绍了将半导体器件外壳表面与外部热沉相接触时,从半导体的热耗散结到封装外壳表面的一维热传导路径下,用瞬态双界面法进行结到壳热阻Rth(J-C)测量的方法。阐述了双界面测试法中存在的若干现象与问题,分析了该方法中加热功率、被测件外壳温度控制以及施加加热功率的时间长短对测试结果产生影响的原因,并针对各个问题和影响因素提出了相应的解决办法及合理建议,以获得更为准确且更具有应用性和指导性的热阻测试结果。
- 彭浩茹志芹张瑞霞刘东月徐立生
- 关键词：半导体器件影响因素
- 现场照度测试装置
- 本发明公开了一种现场照度测试装置，涉及照度测试技术领域，包括照度计固定装置、轨道及行走部分，所述照度计固定装置设置在轨道上，所述轨道与行走部分相连。本发明通过将照度计安装固定在轨道上的照度计固定装置上，并利用行走部分带动...
- 茹志芹黄杰刘东月刘芳
- 文献传递
- SMD封装半导体器件结到壳热阻测试夹具
- 本发明提供了一种SMD封装半导体器件结到壳热阻测试夹具，属于SMD封装半导体器件热阻测试装置技术领域，包括导电底座、压盖、电极座和压紧组件，导电底座下表面与控温平台的上表面贴合，上表面设有用于容纳待测器件的第一容纳槽；第...
- 刘东月茹志芹张中豪赵敏黄杰
- SMD封装半导体器件结到壳热阻测试夹具
- 本发明提供了一种SMD封装半导体器件结到壳热阻测试夹具，属于SMD封装半导体器件热阻测试装置技术领域，包括导电底座、压盖、电极座和压紧组件，导电底座下表面与控温平台的上表面贴合，上表面设有用于容纳待测器件的第一容纳槽；第...
- 刘东月茹志芹张中豪赵敏黄杰
- 文献传递
- 国产功率LED的一种新的失效模式
- 对国产1 W大功率LED器件进行加速寿命试验时发现,在试验过程中发现了一种新的失效模式,即随着时间增加,正向电压V_F逐渐变大。对以前做过加速寿命试验的大功率LED器件的数据进行了整理,发现只有国产封装的大功率LED器件...
- 黄杰刘东月彭浩茹志芹徐立生
- 关键词：大功率LED加速寿命试验
- 文献传递
- 一种SMD封装半导体器件热阻测试夹具
- 本实用新型公开了一种SMD封装半导体器件热阻测试夹具，涉及半导体测试技术领域；包括金属底座、PCB电路板、绝缘定位块和压紧块，所述金属底座上设有凹槽，PCB电路板置于凹槽内，PCB电路板上面设有绝缘定位块，绝缘定位块本体...
- 茹志芹迟雷彭浩张瑞霞林奇全
- 文献传递
- 一种SMD封装半导体器件热阻测试夹具
- 本发明公开了一种SMD封装半导体器件热阻测试夹具，涉及半导体测试技术领域；包括金属底座、PCB电路板、绝缘定位块和压紧块，所述金属底座上设有凹槽，PCB电路板置于凹槽内，PCB电路板上面设有绝缘定位块，绝缘定位块本体上设...
- 茹志芹迟雷彭浩张瑞霞林奇全
- 文献传递
- 国产功率LED的一种新的失效模式
- 对国产1W大功率LED器件进行加速寿命试验时发现，在试验过程中发现了一种新的失效模式，即随着时间增加，正向电压VF逐渐变大。对以前做过加速寿命试验的大功率LED器件的数据进行了整理，发现只有国产封装的大功率LED器件存在...
- 黄杰刘东月彭浩茹志芹徐立生
- 关键词：大功率LED加速寿命试验
- 文献传递
