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文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 5篇电子电信

主题

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  • 1篇单刀双掷
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  • 1篇数控衰减器

机构

  • 4篇中国电子科技...
  • 2篇专用集成电路...
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 5篇白元亮
  • 3篇田国平
  • 3篇朱思成
  • 2篇张晓鹏
  • 1篇陈凤霞
  • 1篇默立冬
  • 1篇陈兴
  • 1篇王文君
  • 1篇田国平

传媒

  • 3篇半导体技术
  • 1篇第九届全国抗...

年份

  • 3篇2013
  • 1篇2009
  • 1篇2007
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
GaAsE/DPHEMT正压驱动单片数控衰减器被引量:6
2013年
采用将正压数字驱动电路和微波衰减器集成在同一单片上的方法,设计制作了6 bit正压驱动数控衰减器单片电路。分析了几种衰减电路原理,以及增强/耗尽型(E/D)PHEMT正压驱动电路原理。采用桥T型结构衰减电路单元、E/D PHEMT控制电路设计了数控衰减器单片电路。基于GaAs E/D PHEMT工艺,流片制作了数控衰减器单片电路。测试结果表明,在DC^4 GHz带宽内,插入损耗L i≤2.9 dB,输入输出回波损耗L r≤-15 dB,衰减精度e bit≤±(0.4+3%×Att)dB(Att为衰减量)。电路具有衰减精度高、线性度好和芯片面积小等特点。内置的E/D PHEMT正压控制电路,可减小控制信号布线面积。采用单正压电源供电使电路更易使用。
白元亮张晓鹏陈凤霞默立冬
砷化镓集成电路辐照试验研究
砷化镓集成电路因其良好的电性能和抗辐射能力,广泛应用于各种领域,尤其是航天航空方面.但电路的抗辐射能力与设计和工艺密切相关,我所在对对单管器件进行了辐照试验,获得可靠的试验结果,改进电路的制作方法,提高电路的抗辐射能力的...
田国平王文君朱思成白元亮
关键词:砷化镓集成电路
文献传递
GaAs PHEMT通信开关电路设计被引量:4
2013年
设计制作了GaAs PHEMT通信开关电路。分析了基于GaAs场效应晶体管(FET)的正压控制开关电路原理,采用GaAs FET器件串并联结构设计了单刀双掷(SPDT)和双刀双掷(DPDT)开关电路。使用ADS软件对电路进行了优化设计,并对电路版图进行了电磁场仿真优化,基于0.5μm GaAs PHEMT工艺,流片制作了SPDT和DPDT开关电路。测试结果表明,在DC^6 GHz带宽内,SPDT开关插损大于-0.75 dB,隔离度小于-27 dB(3 GHz),回波损耗小于-18 dB,芯片尺寸为0.55 mm×0.50 mm。DPDT开关插损大于-1.8 dB,隔离度小于-20 dB(3 GHz),回波损耗小于-12 dB,芯片尺寸为0.65 mm×0.60mm。两种开关均采用正电压控制(+5 V),具有低插损、高隔离度、大功率处理能力(P1 dB大于30 dBm)和芯片尺寸小等优点,可广泛应用于微波通信系统中。
白元亮田国平
关键词:GAASPHEMT正压控制
DC~20GHz GaAs PHEMT超宽带低噪声放大器被引量:4
2013年
采用0.15μm GaAs PHEMT工艺,设计了一款DC~20 GHz宽带低噪声放大器,可作为驱动放大器用于光纤通信或作为宽带增益模块用于测试及测量系统中。电路采用分布式放大器结构,单节采用共源共栅的结构形式实现,其与共源结构相比,拥有较低的栅-漏反馈电容和较高的输出并联电阻,使电路具有较宽的频带、较高的增益和较高的线性度等特点。电路采用+8 V电源供电,将芯片及外围器件进行模块化封装后,易于测试和使用。经过实测,带内的典型噪声系数为3 dB,小信号增益达到14 dB,输入回波损耗低于-14 dB,输出回波损耗低于-17 dB,1 dB增益压缩输出功率达到16 dBm。芯片尺寸为3.12 mm×1.574 mm。
朱思成田国平白元亮张晓鹏陈兴
关键词:低噪声放大器分布式放大器共源共栅
砷化镓8Bit ADC电路的辐照试验研究
砷化镓模数转换器(ADC)具有良好的电性能和耐辐照能力,广泛应用于各种领域,尤其是航空航天领域。电路的耐辐射能力与设计和工艺密切相关,在前期电路的研究基础上,针对电路设计和工艺制造进行大规模集成电路的研究,改进电路的设计...
田国平朱思成白元亮
关键词:砷化镓模数转换
文献传递
共1页<1>
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