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24 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
腔体微扰法测厚度的分辨率和误差被引量:1
1989年
讨论了用微波腔体微扰方法测厚度的分辨率.计算及实验均表明,腔体微扰方法测量厚度具有高的分辨率(0.2μm),文中分析了整机产生误差的主要原因和减小误差的方法,指出扫频源的非线性对精度和稳定性的影响。
吕文选
关键词:厚度分辨率
家用微波炉
1993年
本文扼要叙述微波加热的基本原理、方法和特点.介绍微波炉箱的基本结构和烹调食品应注意的事项.
吕文选
关键词:微波加热设备
频带反射腔控振荡的有源传感器
1992年
频带反射腔控振荡器具有单调谐特性,适当调整振荡器耦合系数K等参数,可使振荡器振荡频率极为接近频带反射腔的谐振频率,文中讨论了耦合系数K值的近似计算,对调整耿氏有源传感器具有指导意义,分析与实验均表明,频带反射腔体受介质微扰所产生的频偏计算值与振荡器振荡频率变化值相当一致,在三厘米波段,两者一致的带宽≥200MHz,因此,频带反射腔控振荡器适于作为高精度的有源传感器。
吕文选钟茂声肖芬
关键词:微波源振荡器
用微波方法测量半导体非平衡载流子寿命被引量:3
1998年
介绍用有哑铃状孔-缝端盖的微波谐振腔测量片状半导体材料非平衡载流子寿命的一种方法.腔体用圆柱TE011模高Q腔,易于更换端盖,可以达到较高的测量精度.实验表明,对同一半导体材料测量得到的有效寿命不因端盖孔-缝的改变而变化,所以可以通过选用孔-缝尺寸不同的端盖,来测量不同电导率的材料,以提高信号幅度,从而提高精度.测量是无接触的,因此无需对样品进行加工.用小的孔-缝端盖还可以用来对半导体材料有效寿命的二维分布进行研究.
倪祖荣吕文选陈朝郑绍宽花健敏
关键词:微波非平衡载流子半导体
薄膜厚度测量装置
薄膜厚度测量装置。本实用新型属于微波测厚技术,是对微波腔体微扰法的改进,并应用于介质薄膜的厚度测量。它采用圆柱型TE。双腔单模作为传感器,被测薄膜位于沿纵向中央所开的横向隙缝中,采取温度自补偿措施和线性好的场效应压控振荡...
李焯杨进城钟茂声吕文选
文献传递
ER-200D-SRC型EPR谱仪微机系统的改造被引量:1
1995年
详细叙述了德国BRUKER分析仪器公司ER-200D-SRC型EPR谱仪与IBMPC/386微机联机的软硬件系统,该系统综合了仪器的自动磁场扫描控制,数据采集累加和数据分析处理及数据绘图、打印等各项功能。其硬件由IBMPC/386微机及二大接口模块组成。一块为商品化的12位A/D、D/A接口卡,另一块为自行设计的以INTEL-8255可编程通用接口电路为主体的数字量输入输出控制接口卡,可分别独立地插入PC机的扩展槽中,其软件采用C语言编写,具有菜单式、结构化、模块化、汉字工作提示、实验数据实时屏幕绘图、实验参数实时显示等特点,用户界面良好,该系统恢复并提高了原谱仪的整体性能,具有一定的推广价值。
郑绍宽于新生陈忠吕文选
关键词:微机数据处理
波导型谐振腔模式的简化推导
推导波导型谐振腔各模式场分量表达式普适公式,并应用于矩形腔和圆柱腔各模式计算.
郑绍宽吕文选肖芬郭生士孙惠军
关键词:谐振腔波导
文献传递
简易式微波腔体微扰法介质薄膜厚度仪
讨论一种简易式微波腔体微扰法测量介质薄膜厚度的工作原理。传感器应用圆柱形高Q值的H[*v011*]腔体,使测厚仪具有高精度,且可实现无接触测量,特别适于可塑性介质薄膜厚度的测量。文章还分析测量误差及实验结果。测厚仪测量厚...
钟茂声吕文选李焯
关键词:微波测量设备介质电介质膜厚度
微波腔体微扰方法测量非电量技术被引量:11
1990年
本文简述微波腔体微扰方法测量湿度、厚度等非电量的原理.根据电磁场理论,导出分辨率公式.计算及实验均表明,用微波腔体微扰方法测量非电量具有高的分辨率.文中还介绍几种检测腔体失谐的方法,着重讨论了鉴相方法和实验结果.
吕文选
关键词:非电量微扰法
微波固体有源传感器研究被引量:1
1992年
本文讨论微波固体源作为测量电量、非电量有源传感器的工作原理。指出频带反射高Q腔稳耿氏振荡器适于作为有源传感器,用它取样测量电容介质(ε_τ(?)2~3)薄膜的厚度,量程:200μm,分辨率≤±0.1μm,介质微扰稳频腔产生的振荡器频偏⊿f与其厚度d具有很好的线性关系。频偏的实验值与微扰方法计算值吻合良好。
吕文选钟茂声
关键词:微波有源传感器传感器
共3页<123>
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