戴睿
- 作品数：4 被引量：0H指数：0
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- 组合电路瞬态故障敏感性量化分析方法
- 2014年
- 为了快速而有效地预测组合电路瞬态故障(Transient Fault,TF)敏感性,提出了一种基于分析模型的瞬态故障敏感性分析方法.采用一种生成脉冲的预特征化方法保证了脉冲生成的精确性;提出了一种基于块的传播算法处理瞬态脉冲传播过程中的屏蔽和衰减效应.基于以上各方法的优势,实现和验证了瞬态故障敏感性的量化分析工具TFSA(Transient-Faults Susceptibility Analysis).ISCAS基准电路的分析结果显示TFSA取得了与同类文献类似的分析结果,对规模较大的电路分析速度上有明显的提升,在高可靠电路设计过程中TFSA可以对瞬态故障敏感性进行有效预测.
- 戴睿蒋见花周玉梅
- 关键词：瞬态故障分析模型
- 一种存储器检错纠错码生成方法
- 本发明公开了一种用于存储器加固的检错纠错码的生成方法。该方法包括：根据原始数据位宽和所需纠检错能力预估校验位个数；初始化校验矩阵；从待检验的校正子向量池中逐个搜索符合线性独立要求的校正子向量填入校验矩阵；记录每次搜寻所产...
- 周玉梅王雷戴睿刘海南蒋见花
- 文献传递
- 一种存储器检错纠错码生成方法
- 本发明公开了一种用于存储器加固的检错纠错码的生成方法。该方法包括：根据原始数据位宽和所需纠检错能力预估校验位个数；初始化校验矩阵；从待检验的校正子向量池中逐个搜索符合线性独立要求的校正子向量填入校验矩阵；记录每次搜寻所产...
- 周玉梅王雷戴睿刘海南蒋见花
- 文献传递
- 单粒子瞬态脉冲宽度量化与自测试电路设计
- 2014年
- 为了研究组合逻辑中单粒子瞬态(Single-Event Transient,SET)的特性,采用片上测量技术提出了一套SET脉冲宽度测量方案.针对SET脉冲特性,设计了一种基于自主触发的脉冲测量电路,提出了一种用于自测试验证的脉冲激励电路.基于本所350nm SOI工艺,完成了一款集脉冲收集、测量、自测试于一体的SET重离子辐射测试芯片.通过仿真分析,验证了该方案的有效性.此方案为其他深亚微米工艺下SET研究提供了参考.
- 向一鸣蒋见花戴睿王雷
- 关键词：SOI
