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唐万荣
作品数:
2
被引量:1
H指数:1
供职机构:
电子科技大学通信抗干扰技术国家级重点实验室
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相关领域:
电子电信
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合作作者
李妍
电子科技大学通信抗干扰技术国家...
唐青
电子科技大学通信抗干扰技术国家...
胡剑浩
电子科技大学通信抗干扰技术国家...
滕保华
电子科技大学物理电子学院
段城
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1篇
2012
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低电压下CMOS数字电路概率模型研究
被引量:1
2012年
为解决数字电路低功耗问题,电路工作电压被不断降低,导致电路逻辑器件呈现概率特性。本文提出了低电压下CMOS数字电路的错误概率模型,并完成硬件电路测试验证。本文首先详述了深亚微米(DSM)量级的门电路及模块在低电压供电条件下导致器件出错的因素,结合概率器件结构模型推导基本逻辑门概率模型,并提出了状态转移法用于完成由门级到模块级的概率分析模型;我们搭建硬件平台对CMOS逻辑芯片进行了低供电压测试,通过分析理论推导结果与实测结果,验证并完善了分析模型。实验结果表明,由状态转移法推导的电路概率模型符合电路实际性能,从而为构建低电压下数字电路概率模型提供了可靠分析模型。
唐青
胡剑浩
李妍
唐万荣
关键词:
低电压
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