用西门子 D-500型衍射仪,CuK_α辐射测量了一组不同掺镁浓度 LiNbO_3的 X 射线粉末衍射谱。样品的掺镁浓度分别为0、1.0、2.7、5.0、6.0、9.0(mol%,x=0.945)。X 射线衍射结果表明各样品均未发生相变或相分离。用最小二乘法(2θ=90°～150°)得到了各组分的精密点阵常数 a、c。结果表明掺镁浓度低于阈值样品的点阵常数无明显变化,而高于阈值样品的点阵常数则有明显增大。用阿基米德法测量了上述样品的密度,按我们提出的缺陷结构模型计算所得的 X 射线密度与实测密度比较,发现两者变化趋势和绝对值都较吻合。上述实验结果证明:在掺镁浓度低于阈值时,Mg^(2+)进入 Li 位;而当掺镁浓度超过阈值时,Mg^(2+)则进入 Nb 位。这与我们早先二篇文章的结果是一致的。
XPS(X 光电子能谱)测量结果表明:YBaCuO 陶瓷的 Ba 3d 谱线由两种不同结合能的 Ba 3d 谱线组成,它们的相对强度随烧结温度不同而有明显差异,其临界温度 T_c 也不同。它们可能对应于不同相的 YBaCuO化合物,其相对含量因烧结条件而异。本文还研究了 Ar^+离子轰击对 YBa_2Cu_3O_(7-x)超导陶瓷的影响,离子轰击后,呈单一的 Ba 3d 谱线,Cu 2p 谱线则还原为较低的价态,其效果与真空退火处理十分相似。
