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恩云飞

作品数：414 被引量：369H指数：9
供职机构：工业和信息化部电子第五研究所更多>>
发文基金：国家自然科学基金中国博士后科学基金电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室基金更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术文化科学电气工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 268篇专利
  • 110篇期刊文章
  • 32篇会议论文
  • 1篇学位论文
  • 1篇科技成果

领域

  • 144篇电子电信
  • 32篇自动化与计算...
  • 13篇文化科学
  • 10篇电气工程
  • 9篇金属学及工艺
  • 7篇理学
  • 5篇机械工程
  • 3篇一般工业技术
  • 2篇天文地球
  • 2篇航空宇航科学...
  • 1篇矿业工程
  • 1篇交通运输工程

主题

  • 84篇电路
  • 45篇可靠性
  • 43篇芯片
  • 43篇集成电路
  • 32篇信号
  • 29篇单粒子
  • 29篇木马
  • 25篇单粒子效应
  • 25篇电流
  • 23篇电迁移
  • 19篇电源
  • 18篇电压
  • 18篇木马检测
  • 16篇红外
  • 15篇电子器件
  • 15篇互连
  • 13篇元器件
  • 13篇模态
  • 13篇激光
  • 10篇加速度

机构

  • 271篇信息产业部电...
  • 91篇中国电子产品...
  • 48篇华南理工大学
  • 31篇工业和信息化...
  • 14篇广东工业大学
  • 11篇西安电子科技...
  • 11篇电子元器件可...
  • 7篇中南大学
  • 5篇中国科学院
  • 3篇中国电子科技...
  • 3篇中华人民共和...
  • 2篇北京大学
  • 2篇东南大学
  • 2篇南京电子器件...
  • 2篇中山大学
  • 2篇工业和信息化...
  • 2篇散裂中子源科...
  • 1篇暨南大学
  • 1篇南华大学
  • 1篇西北核技术研...

作者

  • 412篇恩云飞
  • 97篇黄云
  • 64篇何小琦
  • 55篇黄云
  • 54篇侯波
  • 40篇陈义强
  • 39篇刘远
  • 37篇宋芳芳
  • 35篇谢少锋
  • 35篇王力纬
  • 32篇陆裕东
  • 30篇章晓文
  • 26篇雷志锋
  • 24篇罗宏伟
  • 24篇陈义强
  • 24篇方文啸
  • 23篇肖庆中
  • 23篇师谦
  • 20篇路国光
  • 19篇何玉娟

传媒

  • 24篇电子产品可靠...
  • 14篇微电子学
  • 12篇物理学报
  • 8篇半导体技术
  • 4篇电子质量
  • 4篇2005第十...
  • 4篇第十二届全国...
  • 4篇中国电子学会...
  • 3篇稀有金属材料...
  • 3篇电子学报
  • 3篇华南理工大学...
  • 3篇电子元件与材...
  • 3篇失效分析与预...
  • 2篇传感技术学报
  • 2篇固体电子学研...
  • 2篇西安电子科技...
  • 2篇真空电子技术
  • 2篇中国电子学会...
  • 2篇中国电子学会...
  • 2篇第十五届全国...

年份

  • 1篇2022
  • 5篇2021
  • 27篇2020
  • 21篇2019
  • 64篇2018
  • 53篇2017
  • 39篇2016
  • 40篇2015
  • 35篇2014
  • 13篇2013
  • 5篇2012
  • 5篇2011
  • 11篇2010
  • 10篇2009
  • 14篇2008
  • 20篇2007
  • 13篇2006
  • 15篇2005
  • 8篇2004
  • 2篇2003
共 414 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
多位翻转检测方法和系统
本发明涉及一种多位翻转检测方法和系统，所述方法包括：获取待测器件的发生信息翻转的存储地址的物理地址、所述存储地址的翻转信息和所述翻转信息的读取时间，生成各所述存储地址对应的物理地址、翻转信息和读取时间；判断所述待测器件的...
张战刚雷志锋岳龙恩云飞
文献传递
集成电路硬件木马检测方法及其系统
本发明提供一种集成电路硬件木马检测方法及其系统，其中，方法包括以下步骤：检测待测集成电路芯片的旁路信号，并根据所述旁路信号获取旁路电流信息时域图；对所述旁路电流信息时域图进行频域变换处理，并在频域获取中频段区域的幅频响应...
何春华王力纬侯波恩云飞谢少锋
文献传递
接触孔的电迁移寿命时间测试装置及其测试方法
本发明提供一种接触孔的电迁移寿命时间测试装置及其测试方法，通过与接触孔的金属接触层压合的加热板，加热连接通孔的金属接触层，为接触孔提供电迁移寿命时间测试的应力温度，且可以短时间内快速提高应力温度，而不会影响芯片中其它器件...
章晓文恩云飞何玉娟
轨到轨运算放大器
本发明涉及一种轨到轨运算放大器，包括轨到轨输入级电路、上行电流补偿电路、下行电流补偿电路、输出级电路和电流镜像电路，轨到轨输入级电路分别连接上行电流补偿电路、下行电流补偿电路、电流镜像电路和输出级电路，电流镜像电路还连接...
郝立超赖灿雄岳龙陈义强陈辉侯波郝明明路国光黄云恩云飞
文献传递
基于失效物理的元器件故障树构建方法和系统
本发明公开了一种基于失效物理的元器件故障树构建方法，包括步骤：根据元器件失效物理共性特点，按失效物理6个层次构建故障信息库，形成6个失效物理层信息的故障信息库；根据故障信息库，按失效物理6个层次及失效物理逻辑关系构建故障...
何小琦陈媛恩云飞宋芳芳冯敬东
核电动力设备健康管理与维护系统设计
发展高质量、高可靠的核电动力系统是世界各国相关装备的重要发展方向.装备的故障预测与健康管理(PHM)技术是综合利用现代信息技术、人工智能技术的最新研究成果而提出的一种全新的管理健康状态的解决方案.本文以核电动力系统为例,...
时林林周振威成立业俞鹏飞贾寒光黄云恩云飞
关键词：健康管理
STI氧化物陷阱电荷提取方法、装置、介质和计算机设备
本发明涉及一种STI氧化物陷阱电荷提取方法、装置、介质和计算机设备，对MOS器件进行结构仿真，得到器件结构模型。根据器件结构模型进行电学仿真，得到MOS器件在ON偏置状态下STI侧壁边缘的表面势。根据STI侧壁边缘的表面...
彭超雷志锋张战刚何玉娟恩云飞黄云
文献传递
环境温度对热载流子注入效应的影响
热载流子注入效应是超大规模集成电路的主要失效机理之一,许多超大规模集成电路的失效都与热载流子注入效应有关。本文研究高温环境条件下的热载流子注入效应,通过设计的多晶加热板,采用改变电流的方式控制多晶加热板的温度,获得器件的...
章晓文恩云飞林晓玲
关键词：集成电路环境温度热载流子
文献传递
电子产品PHM及其关键技术被引量：9
2010年
一、PHM技术的发展 （一）含义。 故障预测和健康管理（Prognostics and Health Management，PHM）技术以失效物理为基础，用于预测和评估产品（或系统）在实际环境中的可靠性。PHM技术作为实现系统基于状态的维修、自主式保障、感知与响应后勤等新思想、新方案的关键技术，受到美英等军事强国的高度重视和推广应用。
孔学东陆裕东恩云飞
关键词：电子产品故障预测健康管理可靠性自主式
模态试验装置
本发明涉及提供一种模态试验装置，包括：底座、安装于所述底座上的平移机构、安装于所述平移机构上的激励机构；其中，所述激励机构包括激振器、以及与所述激振器对接的锤柄，所述锤柄上设有锤头，所述锤头本身为力感应元件、或者所述锤头...
宋芳芳何小琦恩云飞邱华荣
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