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李恋

作品数：15 被引量：0H指数：0
供职机构：重庆大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 14篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 9篇性能参数
  • 9篇LED芯片
  • 6篇晶圆
  • 5篇电信
  • 5篇电信号
  • 5篇信号
  • 5篇光电
  • 5篇光电转换
  • 5篇光电转换器
  • 5篇光信号
  • 5篇发光
  • 5篇发光特性
  • 4篇LED
  • 4篇磁场
  • 3篇在线检测
  • 3篇外延片
  • 3篇非接触
  • 2篇调整装置
  • 2篇在线检测方法
  • 2篇驱动控制

机构

  • 15篇重庆大学

作者

  • 15篇李恋
  • 14篇李平
  • 14篇文玉梅
  • 12篇文静
  • 2篇朱永

年份

  • 1篇2013
  • 1篇2011
  • 2篇2010
  • 8篇2009
  • 2篇2008
  • 1篇2007
共 15 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
LED非接触在线检测技术研究
随着半导体发光材料研究的不断深入及LED制造工艺的不断进步，LED的性能大幅提高，LED作为普通照明光源的应用指日可待。价格昂贵是制约LED照明普及的主要因素之一，而LED芯片的封装是LED生产的主要成本源之一。为了避免...
李恋
关键词：半导体照明LED封装在线检测
文献传递
一种LED芯片的检测方法
本发明涉及一种LED芯片的检测方法，特别是一种用于LED封装过程中LED芯片及其封装质量检测方法。它通过检测控制和信号采集处理单元(1)控制光源(2)发射激励光线(3)照射在形成回路的LED芯片(5)的受光面上，检测控制...
文玉梅李平李恋文静
文献传递
LED芯片/晶圆/外延片的非接触式检测方法及检测装置
本发明公开了一种LED芯片/晶圆/外延片的非接触式检测方法及检测装置，其中方法包括：通过检测可控激励光照射下待测器件PN结的光致发光，对LED芯片/晶圆/外延片的发光特性和电特性进行检测；检测装置包括：装置中的检测控制和...
文玉梅文静李平朱永李恋
文献传递
一种带LED缺陷检测装置的焊线机
本发明公开了一种带LED缺陷检测装置的焊线机，它包括系统控制模块、焊接装置、机械装置、光学装置及一个LED缺陷检测装置，其中LED缺陷检测装置包括：检测控制及信号采集处理装置、检测激励光源、激励光聚焦及定位透镜、检测装置...
文玉梅李平李恋文静
文献传递
一种磁场激励的LED在线检测方法
本发明公开一种磁场激励的LED在线检测方法，用交变磁场穿过由LED芯片与支架、焊线构成的闭合回路产生交变电流，通过检测该交变电流激发LED芯片产生的发光特性来实现对LED芯片的功能状态、性能参数以及封装过程中的电极引出的...
文玉梅李平李恋
文献传递
一种LED芯片/晶圆的非接触式检测方法
本发明涉及一种LED芯片/晶圆的非接触式检测方法，特别是一种用于未封装的单个LED芯片或者有多个LED芯片的晶圆的检测方法。它通过检测控制和信号采集处理单元(9)控制光源(7)发射激励光束(4)照射在待测LED芯片/晶圆...
李平文玉梅文静李恋
文献传递
一种LED芯片/晶圆的非接触式检测方法
本发明涉及一种LED芯片/晶圆的非接触式检测方法，特别是一种用于未封装的单个LED芯片或者有多个LED芯片的晶圆的检测方法。它通过检测控制和信号采集处理单元(9)控制光源(7)发射激励光束(4)照射在待测LED芯片/晶圆...
李平文玉梅文静李恋
文献传递
一种LED发光特性的非接触检测方法及装置
本发明公开了一种LED发光特性的非接触检测方法：在恒温条件下，以短时脉冲光照射LED待测件的PN结区域，通过检测PN结的自发光光谱来实现对LED待测件发光特性的检测；本发明还公开了基于前述方法的LED发光特性的非接触检测...
李平文玉梅李恋文静
文献传递
一种磁场激励的LED在线检测方法
本发明公开一种磁场激励的LED在线检测方法，用交变磁场穿过由LED芯片与支架、焊线构成的闭合回路产生交变电流，通过检测该交变电流激发LED芯片产生的发光特性来实现对LED芯片的功能状态、性能参数以及封装过程中的电极引出的...
文玉梅李平李恋
文献传递
一种LED芯片的非接触式检测方法
本发明涉及一种LED芯片的非接触式检测方法，关键在于：它通过检测控制和信号采集处理单元(9)控制光源(7)发射激励光束(4)透射过半透/半反镜组(12)，照射在待测LED芯片(2)的PN结(1)上，半透/半反镜组(12)...
李平文玉梅文静李恋
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共2页<12>
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