毛慧顺 作品数:21 被引量:35 H指数:3 供职机构: 中国科学院高能物理研究所 更多>> 发文基金: 国家自然科学基金 更多>> 相关领域: 理学 核科学技术 更多>>
北京谱仪主漂移室气体监测系统 本文介绍了北京谱仪主漂移室的综合监测系统,可用来对dE/dX的校正及对MDC探测效率的校正。 高树琦 柯尊建 宋晓非 刘荣光 颜洁 白景芝 张健 金艳 王运永 谢佩佩 李如柏 张德红 杨杰 王少敏 黄俊东 毛慧顺关键词:气体 文献传递 闪烁体瓦片/光纤量能器辐照损伤的进一步研究 1994年 研究了由不同闪烁体瓦片/光纤材料组成,或材料相同但构造不同的量能器模型的辐照损伤.用北京正负电子对撞机(BEPC)的电子试验束(1.1或1.3GeV)辐照了十个量能器模型.通过测量在不同累积剂量和在量能器内的不同位置上的光输出,对辐照损伤作出定量分析.还研究了损伤后的恢复及损伤与环境气体的关系.通过数据拟合发展了辐照损伤对剂量及对深度断面的校正方法. 毛慧顺 史焕章 刘念宗 张竹湘 张彩娣 郑林生 周永参 胡力东 赵小健 钟学初 谈益平 韩世温关键词:光纤 北京谱议D物理研究 荣刚 严武光 李卫国 毛慧顺 何康林 马基茂 张达华 赵海文 衡月昆 张纯 徐春成 刘怀民 罗春辉 程保森 康树辉 研究粲介子(D0,D+,Ds+)的产生与衰变,并与各种理论模型的预期值做对比,发展理论模型,增进对强子和粲介子产生机制的了解。 通过测量粲介子一些衰变摸式的分支比,可以检测标准模型的理论,为粒子物理研究作出贡献。建立发展...关键词:关键词:D介子 辐照损伤试验中的位置控制 为了使辐照物在过程中运动采用了二坐标位置控制系统.该系统是由平台装置、伺服系统、数字运动控制器、终端等硬件和系统软件组成的计算机位置控制系统.数字运动控制器是系统控制中心,它接受终端的指令根据运行软件的要求并接收平台装置... 周永参 毛慧顺 史焕章 刘念宗 张戈 张竹湘 张彩弟 郑林生 钟学初 胡力东 赵小健 韩世温关键词:数字运动控制器 伺服系统 位置控制 闪烁体/光纤量能器的结构、材料和抗辐照能力 1994年 描述了闪烁体/光纤的不同结构和材料对量能器抗辐照能力的影响。用北京正负电子对撞机将~1GeV电子束对五个量能器模型逐步辐照到10kGy或60kGy。通过对不同累积辐照剂量时各模型不同断面的光产额的测量,研究和比较了辐照引起的损伤及损伤后的恢复。 毛慧顺 王国良 史焕章 刘念宗 张戈 张竹湘 张彩娣 郑林生 周永生 胡力东 赵小健 钟学初 谈益平 韩世温关键词:闪烁体 光纤 D_s介子几个重要衰变分支比的绝对测量 2000年 在正负电子对撞能量 4 0 3GeV处 ,BES实验在BEPC对撞机上完成了Ds 介子纯轻子衰变 ,半轻子衰变和φπ+ 分支比的绝对测量 .文章详细描述了用于π与K识别的联合置信度方法 ,Ds单标记和双标记技术 ,以及计算Ds 衰变分支比的最大似然函数 .对所得物理结果做了讨论和评述 . 张长春 李卫国 毛慧顺 顾建辉 李小南 荣刚关键词:绝对测量 大角度巴巴散射和双μ产生的研究与亮度测量 被引量:2 1997年 利用北京谱仪(BES)在=4.03 GeV 下正负电子对撞数据,研究了巴巴和双μ事例的 QED 过程.结果表明,实验数据在误差范围内同 QED 预言较好地一致,且从 e^+e^-和μ^+μ^-末态测出的两个亮度值在4%范围内相互一致.计算给出:BES 在该能区获取数据的总积分亮度为23.1 pb^(-1). 白景芝 陈光培 陈宏芳 陈少敏 陈雅清 陈宇 陈元柏 程宝森 崔象宗 丁慧良 杜志珍 范晓舲 方建 高翠山 高美丽 高树琦 顾建辉 顾树棣 顾维新 顾以藩 过雅南 韩世温 韩缨 何炬 何瑁 胡贵云 胡涛 胡晓庆 黄德强 黄因智 姜春华 金山 金艳 康书辉 柯尊建 赖元芬 兰慧彬 郎鹏飞 李芳 李金 李佩琴 李群关键词:亮度 一种漂移室定位子性能反常现象的研究 被引量:1 1998年 研究了一种漂移室定位子性能的反常现象,它关系到定位子的使用寿命.着重测量了暗电流和随机噪声与时间、高压及温度的关系. 王运永 王少敏 毛慧顺 刘荣光 李如柏 李金 宋晓非 张健 张德红 金艳 黄俊东 柯尊建高树琦 谢佩佩 颜洁 顾建辉 李德关键词:漂移室 暗电流 随机噪声 谱仪 北京谱仪-Ⅱ主漂移室干扰噪声的研究 被引量:3 1999年 研究了北京谱仪-Ⅱ主漂移室干扰噪声(pick-up噪声)的主要表现形式,分析了噪声的来源,提出了解决办法。 王运永 王少敏 毛慧顺 刘荣光 宋晓非 李金 李卫国 李小南 李如柏 吕军光 张健 张德红 金艳 杨杰 黄俊东 柯尊建 高树琦 谢佩佩 顾建辉 颜洁关键词:北京谱仪 主漂移室 干扰噪声 用联合D^0和D^+单双标记测定分支比的方法 被引量:2 2002年 报道了用“联合D0 和D+单双标记”测定衰变分支比的方法 .基于北京谱仪 (BES)在北京正负电子对撞机 (BEPC)质心系能量s =4 .0 3GeV处获取的数据 ,利用联合D0 和D+单双标记的方法 ,可以测定D0 和D+介子单举和遍举衰变分支比 .作为该方法的应用举例 ,利用BES实验组发表的数据 ,在 90 %置信度的情况下 ,测得D+→e+ν衰变过程分支比的上限为Br(D+→e+ν) <1 .6% .此上限值与BES曾发表的结果一致 . 荣刚 赵家伟 罗春晖 严武光 徐春成 张达华 衡月昆 何康林 赵海文 毛慧顺 马基茂 陈宏芳 张纯关键词:北京谱仪 北京正负电子对撞机 BEPC D介子 双标记 分支比