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周智惠

作品数：2 被引量：3H指数：1
供职机构：中国电子科技集团公司第四十六研究所更多>>
相关领域：一般工业技术金属学及工艺电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇电子电信
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 1篇多模
  • 1篇多模光纤
  • 1篇损耗
  • 1篇突变
  • 1篇微裂纹
  • 1篇无氧铜
  • 1篇密封
  • 1篇密封件
  • 1篇光纤
  • 1篇光纤传输
  • 1篇光纤传输线
  • 1篇光纤损耗
  • 1篇传输线

机构

  • 2篇中国电子科技...

作者

  • 2篇周智惠
  • 1篇章安辉
  • 1篇胡恺生
  • 1篇黄秀钦
  • 1篇丁丽
  • 1篇刘立娜
  • 1篇李宝珠

传媒

  • 1篇光纤与电缆及...
  • 1篇现代仪器

年份

  • 1篇2010
  • 1篇1991
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
多模光纤损耗突变(台阶)的研究被引量：1
1991年
本文用OTDR、Vikers显微观察仪和腐蚀等手段观察了损耗台阶附近的光纤断面、侧面和光纤长度方向的情况,力图找出台阶出现的原因。分析表明,台阶的形成可能是拉丝过程中光纤抖动,造成光纤局部应力(微弯)引起的。
胡恺生黄秀钦周智惠
关键词：多模光纤损耗突变光纤传输线
无氧铜密封件漏气原因的金相显微分析被引量：2
2010年
用于电真空器件密封用的无氧铜在使用中漏气,利用金相显微技术对不同氧含量的无氧铜进行对比分析,发现:无氧铜中氧含量偏高,出现"氢病",造成微裂纹,导致无氧铜在使用过程中出现漏气。
丁丽章安辉李宝珠周智惠刘立娜
关键词：无氧铜微裂纹
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共1页<1>
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