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朱辉

作品数:4 被引量:14H指数:2
供职机构:中国航天更多>>
相关领域:航空宇航科学技术理学一般工业技术电子电信更多>>

文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 3篇航空宇航科学...
  • 2篇一般工业技术
  • 2篇理学
  • 1篇电子电信

主题

  • 3篇可靠性
  • 2篇SOC
  • 1篇预测与健康管...
  • 1篇片上系统
  • 1篇故障诊断
  • 1篇航天
  • 1篇航天器
  • 1篇FPGA

机构

  • 4篇中国航天
  • 3篇北京控制工程...
  • 1篇中国航天科技...
  • 1篇中国航天北京...

作者

  • 4篇朱辉
  • 3篇刘鸿瑾
  • 1篇刘宇
  • 1篇吕倩
  • 1篇胡冰
  • 1篇张志国
  • 1篇李澍

传媒

  • 4篇质量与可靠性

年份

  • 1篇2013
  • 2篇2012
  • 1篇2011
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
关于空间应用SoC可靠性设计与验证的思考被引量:1
2012年
介绍了国内外空间应用SoC的研究现状,建立了空间应用SoC可靠性设计流程,总结归纳了相关的可靠性设计、加固方法以及可靠性验证技术,并提出了未来的研究方向和相关工作建议,供相关人员参考。
朱辉刘鸿瑾
关键词:SOC可靠性
航天器故障诊断、预测与健康管理探讨被引量:7
2013年
回顾了国外航天器故障诊断、预测与健康管理技术发展历程,分析了典型的航天器故障诊断、预测与健康管理系统功能流程,介绍了PHM在波音公司产品中的应用,在此基础上,归纳了航天器系统寿命周期各阶段的PHM设计,最后总结展望了该项技术在我国航天的应用前景。
朱辉
关键词:航天器故障诊断预测与健康管理
片上系统(SoC)空间应用前景及可靠性若干问题的思考被引量:5
2011年
调研了国内外SoC空间应用现状,分析了国内外SoC空间应用以及可靠性方面的差距,总结了国产SoC空间应用存在的可靠性问题,提出了相关建议,供产品设计单位及可靠性专业单位参考。
张志国刘宇朱辉刘鸿瑾李澍
关键词:SOC可靠性
辐射效应对SRAM型FPGA可靠性的影响分析被引量:1
2012年
分析了空间辐射环境对SRAM型FPGA可靠性的影响,总结归纳了空间应用SRAM型FPGA的故障模式,供FPGA产品设计人员参考。
朱辉胡冰吕倩刘鸿瑾
关键词:FPGA可靠性
共1页<1>
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