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王金辉

作品数：2 被引量：3H指数：1
供职机构：西安交通大学电子与信息工程学院电子科学与技术系更多>>
相关领域：电气工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇电气工程

主题

  • 1篇电触头
  • 1篇电器
  • 1篇质谱
  • 1篇质谱法
  • 1篇质谱计
  • 1篇四极质谱计
  • 1篇污染
  • 1篇密封继电器
  • 1篇计算机控制
  • 1篇继电器
  • 1篇触头

机构

  • 2篇西安交通大学
  • 1篇国营群力无线...

作者

  • 2篇王金辉
  • 1篇黄运添
  • 1篇黄飚
  • 1篇王茹华

传媒

  • 1篇真空科学与技...

年份

  • 1篇1994
  • 1篇1990
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
密封继电器电触头污染的实验研究被引量：3
1994年
本文首先采用扫描电子显微镜（SEM）和俄歇电子能谱仪（AES）分析研究了一种密封继电器镀金电触头（基体材料为99．5AgMgNi）的污染，结果表明：触头的冲击磨损和滑动磨损可导致基体金属暴露于表面，使之硫化、碳化和氧化，从而引起触头污染。文中还运用扫描电子显微镜和四极质谱仪（QMS），对经湿热试验后失效的另一种密封继电器镀金电触头（基体材料为AU50Ag20cU30）的污染进行了分析研究，发现密封继电器内水汽等的存在是导致失效的主要因素，触头受到了污染。为研究、诊断污染的来源并采取相应的措施提供了依据。
黄运添黄飚王金辉王茹华董栓礼郑天丕
关键词：密封继电器质谱法
四极质谱计计算机控制检测系统的研究
王金辉
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共1页<1>
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