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石琦凯

作品数:56 被引量:152H指数:8
供职机构:中国工程物理研究院激光聚变研究中心更多>>
发文基金:国家高技术研究发展计划中国工程物理研究院双百人才基金国家科技重大专项更多>>
相关领域:机械工程理学电子电信文化科学更多>>

文献类型

  • 25篇专利
  • 24篇期刊文章
  • 7篇会议论文

领域

  • 20篇机械工程
  • 17篇理学
  • 9篇电子电信
  • 7篇文化科学
  • 3篇自动化与计算...
  • 2篇化学工程
  • 2篇核科学技术

主题

  • 21篇光学
  • 17篇磁流变
  • 16篇抛光
  • 14篇光学元件
  • 10篇面形
  • 10篇大口径
  • 7篇条纹
  • 7篇磁流变抛光
  • 6篇面形误差
  • 6篇光学加工
  • 6篇函数
  • 6篇磁流变液
  • 5篇聚变
  • 5篇口径
  • 5篇惯性约束
  • 4篇去除函数
  • 4篇子孔径
  • 4篇密度函数
  • 4篇寄生
  • 4篇惯性约束聚变

机构

  • 28篇中国工程物理...
  • 28篇成都精密光学...
  • 2篇四川大学
  • 1篇电子科技大学
  • 1篇上海大学
  • 1篇西南科技大学
  • 1篇浙江师范大学

作者

  • 56篇石琦凯
  • 25篇温圣林
  • 23篇颜浩
  • 22篇王健
  • 21篇张远航
  • 18篇嵇保建
  • 18篇邓燕
  • 17篇唐才学
  • 16篇许乔
  • 15篇柴立群
  • 14篇张清华
  • 12篇邓燕
  • 11篇王翔峰
  • 9篇侯晶
  • 8篇徐建程
  • 7篇杨春林
  • 7篇邓文辉
  • 5篇钟波
  • 4篇杨春林
  • 3篇杨李茗

传媒

  • 11篇强激光与粒子...
  • 4篇中国激光
  • 3篇光学学报
  • 1篇红外与激光工...
  • 1篇光学技术
  • 1篇激光与光电子...
  • 1篇计算机工程
  • 1篇光子学报
  • 1篇激光杂志
  • 1篇2011年第...
  • 1篇中国光学学会...

年份

  • 2篇2024
  • 9篇2022
  • 1篇2021
  • 3篇2020
  • 9篇2019
  • 1篇2018
  • 1篇2015
  • 1篇2014
  • 4篇2013
  • 4篇2012
  • 2篇2011
  • 4篇2010
  • 2篇2009
  • 2篇2008
  • 6篇2006
  • 1篇2005
  • 2篇2003
  • 2篇2001
56 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
一种基于磁流变加工的连续型螺旋相位板制备方法
本发明公开了一种基于磁流变加工的连续型螺旋相位板制备方法,基于梯度匹配方法选择磁流变去除函数,并利用磁流变加工技术去除函数尺寸小、修形能力强、加工确定性高的特点,直接在基本光学元件表面加工出螺旋相位板的设计图案,该方法具...
唐才学温圣林张远航颜浩嵇保建石琦凯邓燕王健张清华李昂
文献传递
斐索干涉仪检测工作台
本实用新型公开了一种斐索干涉仪检测工作台,旨在提供一种检测平面光学元件面形配套设备。它包括承载台、工件支架和检测底座,承载台上设有导轨,工件支架的底部设有滑动滚珠。本实用新型使工件的恒温等待过程和检测过程分离,实现了工件...
杨李茗李瑞洁石琦凯刘夏来张宁于杰巨光段敏
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一种抛光磁流变液搅拌匀滑装置
本发明公开了一种抛光磁流变液搅拌匀滑装置,包括:箱体支架、中心轴、旋转桶、连接架和电机;中心轴上安装有连接架,并且两端通过轴承安装在箱体支架上;旋转桶通过连接架均匀分布在圆周方向上;且相邻旋转桶之间通过桶端连接架相连;旋...
唐才学温圣林颜浩张远航嵇保建石琦凯邓燕王健张清华李昂
一种磁流变抛光去除函数的提取方法及装置
本发明公开了一种磁流变抛光去除函数的提取方法及装置,该方法包括:获取基片元件采斑前和采斑后的面形检测数据;所述基片元件边缘处带有位置标记;根据所述采斑前、采斑后的面形检测数据及基片元件的位置标记,计算得残差数据;对所述残...
唐才学温圣林张远航颜浩嵇保建王翔峰邓燕石琦凯张清华李昂
文献传递
KDP晶体折射率非均匀性检测系统
KDP晶体在高功率固体激光装置中作为频率转换元件,对系统最终输出能量起着至关重要的影响。为达到较高的转换效率,必须满足相位匹配条件。而晶体由于生长的结构缺陷等引起的折射率的不均匀性将导致光束的空间分布存在不同程度的相位失...
柴立群石琦凯许乔邓燕林娟
文献传递
光学元件波前梯度的数值计算方法被引量:5
2005年
惯性约束聚变系统中光学元件的波前梯度均方根是一个关键参数,对其数值计算涉及到的空域处理、频域滤波及梯度算法等关键技术进行了理论分析。分别采用最简单差分算法、中心差分算法、最小二乘拟合算法、“五点法”对实测波前数据进行了梯度均方根值计算。结果表明波前数据的空域处理采用Quadflip技术较为合适;频域滤波器的选用上应着重考虑滤波的有效性。对于原始波前,4种算法计算梯度均方根值的差别小于0.01λ/cm(λ=632.8nm);而对于截止频率为0.0303线/mm的低通滤波后波前,其差别小于0.001λ/cm,该差别对计算结果的影响可以忽略。
柴立群许乔石琦凯邓燕
关键词:光学检测傅里叶变换
KDP晶体折射率非均匀性检测系统被引量:2
2009年
基于正交偏振干涉法,建立了KDP晶体折射率非均匀性的检测系统,并可实现晶体相位失谐角的间接检测.波前检测系统实现了测试光偏振态的精密控制与切换,采用波长调谐相移的方法去除了测试过程中参考面倾斜引入的误差,优化了抗振动相移算法,提高了波前测试的测量准确度及重复性.通过折射率非均匀性分析算法的设计,解决了晶体厚度变化引入的误差等.小口径晶体元件的测试结果表明系统的折射率非均匀性检测准确度(均方根值)优于10-6.
柴立群石琦凯徐建程许乔邓燕
关键词:KDP晶体
一种磁流变抛光去除函数的提取方法及装置
本发明公开了一种磁流变抛光去除函数的提取方法及装置,该方法包括:获取基片元件采斑前和采斑后的面形检测数据;所述基片元件边缘处带有位置标记;根据所述采斑前、采斑后的面形检测数据及基片元件的位置标记,计算得残差数据;对所述残...
唐才学温圣林张远航颜浩嵇保建王翔峰邓燕石琦凯张清华李昂
干涉测量系统中杂散条纹影响的抑制被引量:4
2006年
为了抑制杂散条纹的影响,提出了一种简单实用的单幅三表面干涉条纹傅里叶分析法,它根据三表面干涉时各个表面干涉的条纹调制度不同,从三表面干涉图的频谱中提取测试面的频谱,从而准确地恢复测试面的面形。模拟结果证明了该方法的有效性,准确度可以达到/λ1 000。实验表明:单幅三表面干涉条纹傅里叶分析法得到的面形形状与波长调谐时域傅里叶变化法和涂消光漆法得到的结果基本一致,PV值和RMS值与波长调谐时域傅里叶变化法相差分别为0.001λ和0.004λ,与涂消光漆法相差分别为0.042λ和0.019λ。通过7次单幅三表面干涉条纹傅里叶分析法测量,得到PV和RMS值的重复性分别为0.007 8λ和0.002 6λ。
徐建程石琦凯柴立群邓燕许乔
关键词:傅里叶分析平行平板
用于背光照明的大口径连续相位板设计和制作
连续相位板是大型激光装置中用于控制光束形状、能量和波前分布的一种重要衍射光学元件。为改善聚焦光束的质量,建立了基于现有工艺的大口径连续相位板理论设计模型,优化了传统衍射元件设计算法。采用该算法设计了用于背光照明的Ф330...
温圣林侯晶杨春林颜浩石琦凯周礼书
关键词:惯性约束聚变
文献传递
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