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范李立

作品数:15 被引量:39H指数:4
供职机构:中国科学院上海光学精密机械研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家科技重大专项更多>>
相关领域:机械工程理学电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 10篇专利
  • 5篇期刊文章

领域

  • 3篇机械工程
  • 2篇电子电信
  • 2篇理学
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇文化科学

主题

  • 5篇光学
  • 5篇光学元件
  • 3篇压簧
  • 3篇推杆
  • 3篇启停
  • 3篇轮转
  • 3篇拉簧
  • 2篇眼底
  • 2篇眼底照相
  • 2篇眼底照相机
  • 2篇斯托克斯参量
  • 2篇偏振
  • 2篇平行度
  • 2篇轴承
  • 2篇轴承盖
  • 2篇位移传感器
  • 2篇洁净度
  • 2篇隔震
  • 2篇光刻
  • 2篇反射光

机构

  • 15篇中国科学院上...
  • 3篇中国科学院大...
  • 1篇上海大学
  • 1篇中国科学院研...
  • 1篇上海新眼光医...

作者

  • 15篇范李立
  • 13篇王向朝
  • 8篇李中梁
  • 8篇步扬
  • 3篇徐静浩
  • 2篇袁丰华
  • 2篇曹绍谦
  • 2篇汤飞龙
  • 1篇袁春晓
  • 1篇陈明
  • 1篇孙海轶
  • 1篇张建华
  • 1篇王成
  • 1篇冷雨欣
  • 1篇唐锋
  • 1篇张国先
  • 1篇王关德
  • 1篇徐洋
  • 1篇程欣
  • 1篇王瑄

传媒

  • 3篇中国激光
  • 1篇激光与光电子...
  • 1篇光学学报

年份

  • 1篇2023
  • 1篇2019
  • 3篇2017
  • 3篇2016
  • 2篇2015
  • 2篇2014
  • 2篇2013
  • 1篇2011
15 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
一种光学元件双向转动调整机构
一种光学元件双向转动调整机构,包括:光学元件、光学元件支架、轴承、支架底座、转杆、调整顶杆、锁紧螺母、推杆、推杆支架、导向定位销、压簧、凸轮转杆、底板、旋转电机、拉簧销和拉簧。本实用新型提高了光学元件的转动精度;降低了由...
范李立王向朝李中梁步扬
文献传递
一种提高偏振光斯托克斯参量测量精度的方法被引量:14
2013年
波片相位延迟量误差是影响旋转波片法斯托克斯(Stokes)参量测量精度的主要因素。通过对传统旋转波片法测量Stokes参量的原理进行理论分析,研究了测量误差与相位延迟量误差之间关系,提出了提高偏振光Stokes参量测量精度的方法。该方法通过调整检偏器透光轴方向与待测光束偏振方向成90°或45°后再进行测量,可有效减小波片相位延迟量误差对Stokes参量测量的影响。实验结果表明,当相位延迟量误差小于1.2°时,采用所提出的优化旋转波片法使Stokes参量测量误差从传统旋转波片法的4.31%减小到0.33%。
汤飞龙李中梁步扬王向朝范李立曹绍谦
光学元件定心万向调整机构
一种光学元件定心万向调整机构,主要包括:光学元件、压圈、内环、内环轴承、内环柔性筒、内环手轮、内环小锁紧圈、内环大锁紧圈、内环锥形压圈、外环、外环小锁紧圈、外环大锁紧圈、外环锥形压圈、外环柔性筒、外环轴承、外环轴承压圈、...
范李立王向朝
文献传递
直线位移台运动平行度的非接触检测方法
一种直线位移台运动平行度的非接触检测方法,检测装置包括隔震平台、转接架、螺钉、位移传感器、检测基准块。检测方法包括检测装置安装、测量和数据处理。本发明测量具有分辨率高、精度高、速度快、灵敏度高的特点;对测量环境如洁净度、...
范李立步扬王向朝
文献传递
旋转波片法偏振检测装置器件参数校准被引量:10
2013年
波片相位延迟量误差、快轴角度误差和检偏器透光轴角度误差是影响基于旋转波片法的偏振检测装置测量精度的主要因素。通过对波片和检偏器参数进行校准,可有效提高检测装置测量精度。针对现有校准方法操作复杂的不足,提出一种偏振检测装置器件参数校准新方法。该方法以水平线偏振光[1,1,0,0]T作为标准参考光,分别在检偏器方位角为0°和45°时,对标准参考光各进行一次测量,计算得出器件参数误差,从而实现偏振检测装置器件参数校准。实验结果表明,通过器件参数校准,偏振检测装置测量误差由原来的3%降低至0.87%以内。
汤飞龙李中梁李中梁王向朝步扬王瑄王向朝
关键词:校准斯托克斯参量
光刻机扫描狭缝刀口半影宽度测量技术被引量:5
2019年
扫描狭缝是步进扫描光刻机用于控制曝光剂量的重要单元。随着光刻工艺节点减小到90 nm及以下,光刻照明分系统对刀口半影宽度的测量精度和重复性提出了更高要求。基于此,提出一种基于光瞳像的光刻机扫描狭缝刀口半影宽度测量技术。分析了共面扫描狭缝刀片成像光路,推导得到掩模面半影区与光瞳像的对应关系。搭建了扫描狭缝刀口半影检测系统,并对90 nm光刻机照明分系统的扫描狭缝刀口半影宽度进行测量。实验结果表明,所提测量技术可有效改善光强波动对刀口半影宽度测量的影响,扫描狭缝刀口半影宽度的测量重复性达到0.026 mm,提高了3.46倍(与传统扫描法相比)。该技术可用于高数值孔径浸没式光刻机照明分系统光学半影参数的测量。
刘志帆陈明步扬徐静浩范李立张建华王向朝
关键词:光刻机
光学元件往复式转动机构
一种光学元件往复式转动机构,包括:光学元件、光学元件支架、轴承、支架底座、转杆、调整顶杆、锁紧螺母、推杆、推杆支架、导向定位销、压簧、凸轮转杆、底板、旋转电机、拉簧销和拉簧。本发明提高了光学元件的转动精度;降低了由于电机...
范李立王向朝李中梁步扬
平面面形绝对检验技术测量误差分析被引量:15
2011年
绝对检验消除了参考面面形误差对干涉测量精度的制约,可实现纳米精度的面形测量。对现有主要平面面形绝对检验技术进行了总结比较,运用泽尼克多项式前36项构建被测平面,对边缘噪声、平面原始精度、旋转角度与偏心误差等因素对典型平面面形绝对检验技术测量精度的影响进行了模拟分析。绝对检验对被测平面原始精度、干涉图分辨率和旋转角度误差不敏感,对边缘噪声和旋转偏心误差敏感。实际测量中,旋转轴心对准误差应小于2 pixel,测量中心面积比取95%左右。
徐洋唐锋王向朝徐静浩范李立程欣
100 kHz重复频率锡液滴靶研究
2023年
锡液滴发生器是激光等离子体型极紫外(LPP-EUV)光刻光源中最重要的核心部件之一。光刻光源要求锡液滴靶具备高重复频率、小直径且稳定性好的特性。综述了中国科学院上海光学精密机械研究所EUV光源团队近年来在液滴发生器方面的研究进展,包括液滴直径、重复频率、间距、位置和稳定性等。现阶段研制的锡液滴发生器,在100 kHz频率下喷射的锡液滴直径约为40μm,间距约为230μm,工作时长接近5 h。锡液滴在10 s短时间内,竖直和水平方向的位置不稳定性分别约为2μm和1μm。未来锡液滴的可用性性能(如液滴直径、工作时长和长时间的位置稳定性)还需进一步提升。
孙海轶王关德李学红彭凯伦邹家杰彭宇杰王成冷雨欣徐静浩范李立袁丰华李中梁步扬王天泽张子怡新刚林楠
关键词:极紫外
光学元件往复式转动机构
一种光学元件往复式转动机构,包括:光学元件、光学元件支架、轴承、支架底座、转杆、调整顶杆、锁紧螺母、推杆、推杆支架、导向定位销、压簧、凸轮转杆、底板、旋转电机、拉簧销和拉簧。本发明提高了光学元件的转动精度;降低了由于电机...
范李立王向朝李中梁步扬
文献传递
共2页<12>
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