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陈凡

作品数:2 被引量:11H指数:2
供职机构:合肥工业大学计算机与信息学院更多>>
发文基金:国家教育部博士点基金国家自然科学基金更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇电路
  • 2篇裕度
  • 2篇软错误
  • 1篇电路性能
  • 1篇选择性
  • 1篇容错
  • 1篇微电子
  • 1篇可靠性
  • 1篇触发器

机构

  • 2篇合肥工业大学

作者

  • 2篇黄正峰
  • 2篇陈凡
  • 2篇梁华国
  • 1篇蒋翠云

传媒

  • 1篇电子与信息学...
  • 1篇电子测量与仪...

年份

  • 2篇2014
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
时序敏感的容软错误电路选择性加固方案被引量:7
2014年
由于瞬态故障引起的电路软错误问题越来越严重,现有的选择性加固方案通常带来较大的时序和面积开销。针对这些问题,提出了在电路时序松弛路径使用高可靠性时空冗余触发器来加固电路的方案。该方案在不降低电路性能且面积开销很小的情况下,达到电路容错性能的最大提高。ISCAS’89基准电路的实验数据显示,平均面积开销为60.26%就能将整个电路的软错误率降低90%以上。针对可靠性、性能和面积开销,提出了综合评价指标RAPP。本方案在加固30%、50%、70%和90%时,和相关文献相比,RAPP值都是最小的,达到了三者的最佳折中。
梁华国陈凡黄正峰
关键词:软错误电路性能可靠性
基于时序优先的电路容错混合加固方案被引量:4
2014年
为了有效降低容忍软错误设计的硬件和时序开销,该文提出一种时序优先的电路容错混合加固方案。该方案使用两阶段加固策略,综合运用触发器替换和复制门法。第1阶段,基于时序优先的原则,在电路时序松弛的路径上使用高可靠性时空冗余触发器来加固电路;第2阶段,在时序紧张的路径使用复制门法进行加固。和传统方案相比,该方案既有效屏蔽单粒子瞬态(SET)和单粒子翻转(SEU),又减少了面积开销。ISCAS’89电路在45 nm工艺下的实验表明,平均面积开销为36.84%,电路平均软错误率降低99%以上。
黄正峰陈凡蒋翠云梁华国
关键词:微电子软错误
共1页<1>
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