黄春益
- 作品数：6 被引量：18H指数：2
- 供职机构：北京工业大学电子信息与控制工程学院更多>>
- 相关领域：电子电信电气工程更多>>
- DC/DC模块中功率器件的寿命预计方法被引量：5
- 2010年
- 模拟开关电源DC/DC模块内部电路为开关电源中的功率器件—垂直导电双扩散MOS(VDMOS)和肖特基二极管(SBD)—提供恒定电应力,并对其施加温度应力进行加速寿命试验。采用恒定电应力温度斜坡法(CETRM),对开关电源中功率器件VDMOS和SBD的可靠性进行评价;对其失效机理一致性进行分析,计算其失效激活能;并在失效机理一致的范围内外推正常使用条件下的寿命,为开关电源整体可靠性评价提供依据。
- 黄春益马卫东张喆谢雪松吕长志李志国
- 关键词：开关电源DC/DC变换器加速寿命试验
- DC/DC电源模块可靠性的研究被引量：15
- 2010年
- 对当前较广泛应用的DC/DC电源模块这一多芯片组件(MCM)的可靠性进行了研究.通过对模块使用可靠性的统计,利用ANSYS软件对模块表面温度分布的模拟得出影响其可靠性的关键器件为垂直双扩散金属-氧化物-半导体场效应晶体管(VDMOS)和肖特基势垒二极管(SBD).使用以器件参数退化为基础的恒定电应力、序进温度应力加速寿命试验方法分别获得VDMOS和SBD的失效敏感参数为VDMOS的跨导gm和SBD的反向漏电流IR;VDMOS和SBD的平均寿命分别为1.47×107h和4.3×107h.分析表明,这2种器件参数的退化均与器件的Na+沾污和Si-SiO2界面的退化有关,同时SBD的参数退化还与Al-Si界面的退化有关.
- 吕长志马卫东谢雪松张小玲刘扬黄春益李志国
- 关键词：DC/DC电源模块可靠性加速寿命试验
- 电源模块中关键器件的加速寿命试验
- 使用印刷电路板仿制电源模块的电路,保证电路中的关键器件在实际的工作条件下被单独施加序进的温度应力,进行以电学参数退化为基础的加速寿命试验。克服了不能对电源模块中的关键器件施加较高温度应力进行加速寿命试验的困难。试验获得电...
- 吕长志马卫东黄春益张小玲谢雪松王东凤李志国
- 关键词：电源模块加速寿命试验可靠性
- 文献传递
- 开关电源DC/DC模块功率级可靠性研究
- 功率半导体器件的发展促成了开关型电源的出现。凭借开关电源自身的诸多优点，开关型电源一经出现便很快的取代了线性电源，而且发展迅猛。现代开关电源己广泛应用于航空航天、汽车、通信以及消费类电子。当前开关电源发展的一个主要方向就...
- 黄春益
- 文献传递
- 电源模块中关键器件的加速寿命试验
- 使用印刷电路板仿制电源模块的电路，保证电路中的关键器件在实际的工作条件下被单独施加序进的温度应力，进行以电学参数退化为基础的加速寿命试验。克服了不能对电源模块中的关键器件施加较高温度应力进行加速寿命试验的困难。试验获得电...
- 吕长志马卫东黄春益张小玲谢雪松王东凤李志国
- 关键词：电源模块加速寿命试验可靠性
- 文献传递
- 基于Matlab的序加试验数据的改进处理方法
- 2012年
- 利用Matlab编程工具,提出温度作为加速应力的序加试验数据的改进处理方法。改进后的方法采用序进温度应力加速样品老化,基于参数退化数据提取失效激活能和寿命外推所需要的参数,无需待样品完全丧失功能即可停止试验,从而提高试验效率。试验数据处理结果表明,新方法得到的样品平均寿命与多年来统计的现场数据一致,验证了该方法的正确性。通过与原方法进行比较,验证了新方法具有简便、高效的特点。
- 郭敏吕长志谢雪松张小玲黄春益
- 关键词：数据处理可靠性加速寿命试验
