何延才
- 作品数：26 被引量：23H指数：3
- 供职机构：中国科学院上海硅酸盐研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金中国科学院科学基金更多>>
- 相关领域：理学电子电信机械工程金属学及工艺更多>>
- 应用分波法计算低能电子弹性散射截面被引量：1
- 1991年
- 基于Pendry的工作,建立一个应用量子力学分波法计算低能电子弹性散射截面的方法,该方法采取Hartree近似和Hartree-Fock近似相结合,既节省计算机时又能将Pendry的算法延伸到keV以上能区。计算了元素Be、C、Al、Cu等的弹性散射截面,并与Screen-Rutherford截面进行比较。本文方法已用于低能电子散射研究中。文中给出计算程序框图。
- 谭震宇裘培勇何延才王心磊
- 关键词：分波法随机方法求积
- Monte Carlo重整化群方法计算逾渗模型的临界指数被引量：3
- 1994年
- 本文运用ＭｏｎｔｅＣａｒｌｏ重整化群方法计算了点遍渗中次近邻正方格子的导通阈值和临界指数，得出与最近邻正方格子属于同一普适类的结论。
- 杨进杨祖宝何延才
- 关键词：重整化群逾渗蒙特卡罗模拟
- Monte Carlo方法计算低能电子作用下固体背散射电子发射及空间分布被引量：1
- 2001年
- 应用MonteCarlo方法 ,对能量E0 5keV低能电子作用下固体Al、Cu、Ag、Au的背散射电子发射及表面空间分布作了计算 .模型应用Mott散射截面及修正的Bethe方程分别描述低能电子在固体中的弹性和非弹性散射 .计算了背散射电子能量分布、表面空间分布、深度分布和角分布规律及特征 ,还计算分析了背散射电子角分布与深度分布、表面空间分布及能量分布之间的关系 ,系统地描述了背散射电子的发射及分布规律 .
- 谭震宇何延才
- 关键词：MONTECARLO方法
- keV低能束作用下固体BSEs角分布被引量：1
- 2000年
- 应用蒙特卡罗方法 ,对不同能量低能电子作用下元素固体 Al,Cu,Ag,Au的背散射电子角分布及其与其他分布的关系作了模拟 .计算分析了背散射电子角分布随能量及原子序数的变化 ,不同出射角区背散射电子在固体中发射深度分布 ,能谱及表面空间分布 .结果表明背散射电子角分布随能量降低偏离余弦分布时发射规律的变化 ,小出射角区背散射电子强度增大主要来自样品浅表层大角度背散射产生的低能损背散射电子增加 ,且具有较好表面空间分辨率 .
- 谭震宇何延才
- 关键词：蒙特卡罗法电子束
- 微颗粒X射线定量分析中二次荧光校正计算公式
- 二次荧光校正计算是微颗粒X射线定量分析中极为困难的问题。本文基于一定物理模型,提出了任意形状、尺寸的多元系颗粒样品二次荧光发射强度计算方法,导出了轴对称旋转体颗粒荧光校正计算公式。设一定能量电子束垂直入射到多元颗粒表面上...
- 何延才曹立群陈家光
- 关键词：微颗粒
- 解相对论Dirac方程计算低能电子弹性散射截面的分波法被引量：4
- 1993年
- 本文给出一个基于解相对论Dirac方程计算低能电子弹性散射截面的方法,比较Thomas-Fermi-Dirac(TFD)势及Hartree-Fock(HF)势对散射截面计算的影响,计算了C、Al、Cu、Ag、Au等多种元素在0.01～10keV能量范围的弹性散射截面,比较分析Mott模型、Pendry模型以及屏蔽的Rutherford截面之间的差异。
- 谭震宇何延才
- 关键词：散射截面分波
- 一个改进的Love电子能量损失方程
- 2000年
- 给出一个改进的Ｌｏｖｅ电子能量损失方程──ＭＬ方程，该方程既保持了Ｌｏｖｅ方程可积分得到Ｂｅｔｈｅ路径解析式特点，能量较低时又能较好地描述电子能量损失．用ＭＬ及Ｌｏｖｅ方程对Ａｌ、Ａｇ、Ａｕ的电子阻止本领与电子作用区作了计算比较．基于Ｍｏｔｔ截面以及ＭＬ与 Ｌｏｖｅ方程，用 Ｍｏｎｔｅ Ｃａｒｌｏ方法模拟了 Ｅ≤５ｋｅＶ的低能电子在Ａｌ、Ａｇ、Ａｕ中的散射，计算的电子背散射系数表明，改进后的ＭＬ方程计算结果与实验符合较好。
- 谭震宇何延才
- 关键词：阻止本领MONTECARLO方法
- 低能电子非弹性散射阻止本领
- 1995年
- 电子在固体中的弹性散射用Ｍｏｔ截面描述，提出一个简化的壳层电子激发计算方法将文献［５］中对电子非弹性散射的模拟拓展到重元素，用ＭｏｎｔｅＣａｒｌｏ方法模拟低能电子在Ａｌ、Ｃｕ、Ａｕ中的散射过程，计算的背散射系数、薄膜透射系数与实验一致．由此，计算得低能电子非弹性散射阻止本领并与Ｌｏｖｅ、Ｒａｏ—ＳａｈｉｂＷｉｔｔｒｙ以及Ｊｏｙ的修正Ｂｅｔｈｅ阻止本领作比较分析．
- 谭震宇何延才
- 关键词：低能电子散射蒙特卡洛法
- Monte Carlo方法计算多层薄膜中X射线发射强度被引量：1
- 1989年
- 基于作者发展的电子散射模型,多层介质中电子散射理论、X射线强度、吸收和荧光计算公式,用Monte Carlo方法计算了多层薄膜中X射线发射强度比值。在不同加速电压下,对Si衬底上Au,Cu多层膜及Cr,Ni多层膜计算的强度比与EPMA实验结果广泛一致。本工作为最终解决多层薄膜X射线定量显微分析的难题奠定了理论基础。
- 何延才胡幼华陈家光王心磊
- 关键词：X射线蒙特卡罗法
- Monte Carlo方法模拟背散射电子固体表面空间分布被引量：2
- 1995年
- 应用ＭｏｎｔｅＣａｒｌｏ方法模拟低能电子在固体中的散射过程；电子的弹性散射用较严格的Ｍｏｔｔ截面计算；非弹性散射分为等离子激发、导带电子激发及壳层电子激发并由Ｑｕｉｎｎ，Ｓｔｒｅｉｔｗｏｌｆ及Ｇｒｙｚｉｎｓｋｉ的截面描述．对不同能量低能电子作用下不同元素固体中背散射电子、低能损背散射电子表面空间分布作了计算，结果表明低能损背散射电子具有较好的空间分辨率，这对改善背散射电子图象以及电子束曝光检测技术较有意义．
- 谭震宇蒋定举何延才
- 关键词：电子束弹性散射蒙特卡罗法
