蔡玉琴
- 作品数:12 被引量:9H指数:2
- 供职机构:中国工程物理研究院更多>>
- 发文基金:中国工程物理研究院科学技术发展基金国家高技术研究发展计划更多>>
- 相关领域:核科学技术理学电子电信更多>>
- 用类Ne离子L带特征线诊断等离子体特性初步实验研究被引量:3
- 1992年
- 本文描述在X光激光实验中用平晶谱仪测量类Ne锗离子L带线谱,首次借助于碰撞辐射模型,用L带特征线的强度所确定等离子体电子密度和温度。并用平晶谱仪配条纹相机测量等离子体的时间特性。
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- 关键词:X光激光等离子体
- 低泵浦能量类氖锗等离子体软X射线激光实验被引量:3
- 1994年
- 提出并采用具有一定时间间隔的双束脉冲加热锗薄膜靶方法,在泵浦激光能量100J,靶长10mm的实验条件下,观察到波长19.61nm和23.63nm两条类氖锗3s-3p激光跃迁线。19.61nm(J=0-1)的激光跃迁线发射强度较23.63nm(J=2-1)激光线的强度大,其发散角较后者小。
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- 关键词:X射线激光锗激光跃迁
- 类Ne钛X射线激光输出特性实验
- 1997年
- 在星光激光装置上,使用X射线多层膜反射镜、铝滤片及X射线CCD探测器组成高灵敏度空间分辨探测系统,对用预脉冲技术产生的类Ne钛单线(J=0-1,3p-3s跃迁)软X射线激光输出特性进行了测量。由实验得到了类Ne钛X射线激光束近场与距靶端32mm处(准远场)强度的空间分布,给出了该激光束在近场强度最大区域的空间尺度(FWHM)约为72μm×31μm,以及在垂直靶面与平行靶面方向的束发散角分别约为4mrad与9mrad。
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- 关键词:X射线激光发散角激光
- 平场光栅谱仪相对衍射效率测量
- 1999年
- 以激光碳等离子体作为软X射线源,同时用平场光栅谱仪、常栅距光栅谱仪测量了类氢和类氦离子谱线强度,以一级谱线强度为标准,给出了平场光栅谱仪高级次光谱的相对衍射效率。
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- 关键词:光谱测量衍射效率
- 用类He离子谱线强度比测量激光产生等离子体电子温度和密度被引量:1
- 1989年
- 一、引言在X光激光(XRL)和惯性约束聚变(ICF)研究中,等离子体电子温度和密度是表征等离子体状态的重要参数之一。虽然等离子体辐射各谱线强度与发射源的温度,密度和离子丰度直接相关,但要得到各谱线的绝对强度是很困难的,因为用于测量谱线强度探测器的绝对刻度相当困难。早在70年代初,苏联Aglitskii等首次用类He离子谱线强度比测量等离子体电子温度和密度。
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- 关键词:激光等离子体温度
- 线状锗等离子体空间分布特性实验研究
- 1993年
- 在电子碰撞激发类Ne锗X光激光实验的基础上,对线状等离子体空间分布特性进行定量测量和分析。首次给出了线状等离子体分布尺度,同时也研究了不同的激光参数和靶结构对等离子体状态的影响。
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- 关键词:X射线激光等离子体锗
- 激光产生等离子体辐射X射线特性研究
- 1993年
- 本文报导激光产生等离子体辐射X射线的测量方法和结果。在“星光”装置上,用1.60μm激光辐照Na/F和铜靶。用平晶谱仪测量等离子体辐射X射线绝对强度,并研究了辐射X射线强度与入射激光功率密度的关系。测量了靶前靶后辐射强度之比,为光电离机制的X光激光研究提供了较重要的数据。
- 杨上金蔡玉琴张启仁何颖玲盛家田
- 关键词:等离子体激光等离子体X辐射
- X光激光实验中的等离子体状态诊断
- 1991年
- 在LF-12激光装置上,将500~600J、约1.5ns脉冲宽度的Nd玻璃激光聚焦成约120μm宽、20mm长的线作用到1mm厚的锗平面靶上。在靶室内设置具有空间分辨本领的平晶谱仪(测量波长范围在0.6~0.9nm)诊断锗等离子体状态。用2p-nd(n≥4)能级跃迁的类Ne离子谱线间的相对强度比估计等离子体电子温度在400~600eV。在实验中测到的线谱主要是类Ne GeXXⅢ离子产生的,类F GeXXⅣ离子产生的谱线次之,类Na GeXXⅡ离子产生的谱线比较弱。并且初步观察到线状等离子体轴向分布均匀性和横向离子分布特征。
- 杨上金蔡玉琴淳于书泰
- 关键词:X光激光等离子体
- 掠入射凹面光栅谱仪高级次衍射光谱相对效率测量被引量:2
- 1997年
- 测量了波长2.847、3.373、4.027、9.873和10.24nm谱线的一级和高级次光谱强度。给出了以一级光谱强度为标准的高级次衍射光谱的相对效率,并对测量结果进行了分析、讨论。
- 黄文忠蔡玉琴谷渝秋何颖玲
- 关键词:光谱测量谱仪