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刘斌

作品数：1 被引量：6H指数：1
供职机构：国家金银制品质量监督检验中心更多>>
相关领域：金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇金属学及工艺

主题

  • 1篇荧光
  • 1篇荧光光谱
  • 1篇荧光光谱法
  • 1篇色散
  • 1篇扩展不确定度
  • 1篇光谱
  • 1篇光谱法
  • 1篇X射线荧光
  • 1篇X射线荧光光...
  • 1篇X射线荧光光...
  • 1篇不确定度

机构

  • 1篇国家金银制品...

作者

  • 1篇陈丁滢
  • 1篇吴奕阳
  • 1篇刘斌

传媒

  • 1篇上海计量测试

年份

  • 1篇2004
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
波长色散X射线荧光光谱法对纯银中银含量的测试被引量：6
2004年
应用波长色散X射线荧光光谱法(WDXRF)对纯银(银含量为99.00％～99.90％)中的银含量进行定量分析。利用国家标准物质和自行研制的工作标样建立校准曲线,采用Lachance-Trill浓度校正模式消除吸收-增强效应。对样品的测试结果与其它方法结果比较,证明方法可行。银含量99.00％≤C<99.90％时,扩展不确定度U_(90)=0.10％,V_(eff)=50。
刘斌吴奕阳陈丁滢
关键词：扩展不确定度
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共1页<1>
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