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周翔

作品数:2 被引量:8H指数:2
供职机构:南开大学物理学院更多>>
发文基金:中央高校基本科研业务费专项资金国家重点实验室开放基金更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学

主题

  • 1篇第一性原理
  • 1篇第一性原理研...
  • 1篇钝化
  • 1篇源岩
  • 1篇生烃
  • 1篇生烃潜力
  • 1篇烃源
  • 1篇烃源岩
  • 1篇漫反射
  • 1篇结构和光学性...
  • 1篇近红外
  • 1篇近红外漫反射
  • 1篇近红外漫反射...
  • 1篇光谱
  • 1篇光学
  • 1篇光学性
  • 1篇光学性质
  • 1篇红外
  • 1篇表面氧

机构

  • 2篇南开大学
  • 1篇山东大学
  • 1篇中国石油天然...
  • 1篇煤炭科学研究...

作者

  • 2篇曹学伟
  • 2篇周翔
  • 1篇王玉芳
  • 1篇周润丰
  • 1篇吴远彬
  • 1篇李晓春
  • 1篇徐晓轩
  • 1篇王斌
  • 1篇宋宁
  • 1篇武中臣
  • 1篇陈锦
  • 1篇张宇佳

传媒

  • 1篇光谱学与光谱...
  • 1篇光散射学报

年份

  • 1篇2011
  • 1篇2010
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
表面氧钝化碳化硅纳米团簇电子结构和光学性质的第一性原理研究被引量:3
2010年
基于密度泛函理论(DFT)和广义梯度近似(GGA),对氧钝化条件下4H—SiC纳米团簇的电子结构和光学性质进行了研究。计算了不同直径的4H—SiC纳米球氧钝化后的能带结构、电子态密度和光学性质。团簇的尺度在0.4~0.9nm之间,构建表面仅存在硅氧双键和表面仅存在碳氧双键的两种模型。研究表明硅氧双键和碳氧双键所引起的缺陷态位于原4H—SiC的价带和导带之间,并且缺陷态与价带顶的能量差随纳米团簇颗粒直径的增大而减小;缺陷态主要是由Si原子外层电子和氧原子外层电子轨道杂化引起的。同时,由于氧的存在,对碳化硅的结构产生一定的影响,这也是缺陷态形成的一个原因。另外,碳氧双键和硅氧双键钝化对4H~SiC纳米团簇的光学性质有着不同的影响。在表面仅存在C=O的情况下,4H—SiC纳米团簇表现出各向同性的性质。在表面仅存在Si=O的情况下,4H—SiC纳米团簇表现出各向异性的性质。
李晓春吴远彬周翔周润丰曹学伟王玉芳
关键词:第一性原理光学性质
基于近红外漫反射光谱的烃源岩生烃潜量的确定被引量:5
2011年
对比了近红外光谱和中红外光谱对烃源岩样品生烃潜量的定量分析能力。由于近红外光谱受样品的颗粒度、密度、表面粗糙度等造成的光散射的影响更大,使得其漫反射光谱数据的信噪比很低,背景干扰很大,很难直接应用于定量分析。因此需要一种有效的方法对近红外漫反射数据进行预处理来消除散射的影响。本文对比了正交信号校正算法(OSC)及其两种改进算法(DOSC和WMDOSC)对原始光谱进行预处理,并结合间隔偏最小二乘(iPLS)建模的结果,发现用WMDOSC作为预处理方法时,近红外光谱所建模型能够达到与中红外一致的准确性,使得近红外漫反射光谱技术在石油录井中有了广阔的应用前景。
张宇佳徐晓轩宋宁武中臣周翔陈锦曹学伟王斌
关键词:烃源岩生烃潜力漫反射近红外
共1页<1>
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