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陈亿

作品数：2 被引量：0H指数：0
供职机构：电子部更多>>
相关领域：电气工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 1篇电气工程

主题

  • 1篇电容
  • 1篇电容器
  • 1篇多层陶瓷
  • 1篇多层陶瓷电容
  • 1篇多层陶瓷电容...
  • 1篇失效模式
  • 1篇陶瓷
  • 1篇陶瓷电容
  • 1篇陶瓷电容器
  • 1篇作用机制研究
  • 1篇温度

机构

  • 2篇电子部
  • 1篇电子工业部

作者

  • 2篇陈亿
  • 1篇何小琦
  • 1篇王洪恩
  • 1篇刘红

传媒

  • 1篇电子产品可靠...
  • 1篇第八届全国可...

年份

  • 1篇1999
  • 1篇1996
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
温度和湿度对多层陶瓷电容器贮存性能退化的作用机制研究
1996年
多层陶瓷电容器(MLC)在贮存过程中的失效模式主要为损耗增大、绝缘电阻下降,并且随着环境温度和湿度的上升,MLC的性能退化加剧.本文通过分析温度、湿度对MLC性能退化的作用机制,对MLC的失效机理进行了探讨,并推导建立了MLC表面电导与湿度关系的半定量模型.
刘红陈亿
关键词：多层陶瓷电容器温度电容器
MCM-C多层基板的主要失效模式及机理研究
种试验方法暴露了MCM-C低温共烧多层陶瓷基板存在的失效（缺陷）模式，统计了其分布比例；探讨了其形成机理并提出抑制缺陷的工艺控制方法。
陈亿何小琦王洪恩
关键词：失效模式
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