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文献类型

  • 2篇中文专利

主题

  • 2篇探测器
  • 2篇无源
  • 2篇高纯锗
  • 2篇高纯锗探测器

机构

  • 2篇中国辐射防护...

作者

  • 2篇杨绍文
  • 2篇刘立业
  • 2篇张斌全
  • 2篇张勇
  • 2篇候海权
  • 2篇马吉增
  • 2篇潘红娟

年份

  • 1篇2009
  • 1篇2007
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
高纯锗探测器无源效率刻度的方法
本发明涉及一种高纯锗探测器无源效率刻度的方法。该方法可以自动、快速、准确地确定高纯锗晶体及其灵敏区尺寸,然后利用蒙特卡罗方法直接进行模拟计算,从而快速实现高纯锗探测器无源效率刻度。
马吉增刘立业潘红娟候海权张斌全张勇杨绍文
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高纯锗探测器无源效率刻度的方法
本发明涉及一种高纯锗探测器无源效率刻度的方法。该方法可以自动、快速、准确地确定高纯锗晶体及其灵敏区尺寸,然后利用蒙特卡罗方法直接进行模拟计算,从而快速实现高纯锗探测器无源效率刻度。
马吉增刘立业潘红娟候海权张斌全张勇杨绍文
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共1页<1>
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